明瞭なSEM観察の切り札！エキシマUVクリーナーのご紹介
公開日： 2025/01/17
走査電子顕微鏡で試料を観察する際、観察時間が長くなるに従って観察領域が暗くなったり、構造が不鮮明になることがあります。これは試料表面などに残留した炭化水素化合物が、入射電子線と相互作用することで発生したコンタミネーションが原因です。このようなコンタミネーションの防止や除去を行い、試料本来の構造を明るく鮮明に観察するためにエキシマUVクリーナーを開発しました。エキシマUVクリーナーはもちろんのこと、簡単にできるコンタミネーション対策まで網羅的にご紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
SEM観察で直面するコンタミネーションの一般的な対策方法
日本電子が販売するエキシマUVクリーナーのコンタミネーションに対する有効性
エキシマUVクリーナーのコンタミネーション対策以外の応用例
参加いただきたいお客様
SEMを使用されている方
SEMに限らずFIBやEPMA、AESなどの走査電子顕微鏡をご利用されている方
講演者
植竹 勇介
日本電子株式会社
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
開催日/詳細
2025年2月18日 (火) 16:00 ～ 17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
JAMP-9510F フィールドエミッション オージェマイクロプローブ
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
講演録画
後日講演録画を掲載します。掲載の際は弊社電子顕微鏡メールマガジンやSNSにてご案内をいたします。
参加費
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
動画
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