走査電子顕微鏡 (SEM) 基礎講座

公開日： 2025/02/14

定員のためお申し込みを締め切りました。

拝啓時下益々ご清栄のこととお慶び申し上げます。また平素より日本電子製品に格別のお引き立てを賜り、厚く御礼申し上げます。
さて、この度、下記内容にて「走査電子顕微鏡(ＳＥＭ) 基礎講座」を開催することになりました。
つきましては、ご多忙とは存じますが、是非ご参加賜りたくよろしくお願い申し上げます。

主催：日本電子株式会社大阪支店
科学計測機器グループ

開催日/会場

日程：
2025年3月19日(水)10時～（受付は09：45～）

会場：
日本電子株式会社西日本ソリューションセンター
〒532-0011大阪市淀川区西中島5-14-5 ニッセイ新大阪南口ビル1F 地図

JR「新大阪」駅正面口徒歩5分
地下鉄御堂筋線「新大阪」駅南口（7番出口）徒歩2分

対象者:
タングステンタイプの走査電子顕微鏡をご利用のお客様

参加費:
無料

定員:
7名　(先着順)

09:45	受付開始
10:00	講義　SEMの上手な使い方 SEMで得られる情報帯電と低真空モードより良いSEM像を得るために「観察条件の設定」試料のマウント方法
	講義　EDSの上手な使い方 SEMによる元素分析 EDSでできること分析条件の設定「SEM/EDSの条件設定」・「試料の注意点」分析の注意点
12:00	休憩
13:00	実習　SEM、EDSの実機を使った実習 ※実習装置　JSM-IT510LA　分析走査電子顕微鏡
16:00	終了

※ プログラムは変更される場合があります。予めご了承ください。
※ 昼食は近隣の飲食店をご利用ください。
※ 駐車場はございませんので、公共交通機関をご利用ください。
※ キャンセルまたは出席者変更の場合は前日までにご連絡ください。それ以降の出席者変更は当日受付にてお伺いいたします。

定員のためお申し込みを締め切りました。

日本電子株式会社大阪支店
TEL 06-6304-3942
E-Mail : sosaka@jeol.co.jp