4D-STEM ワークショップのご案内
公開日： 2025/04/28
主催：DECTRIS AG, 日本電子株式会社
共催：JST ERATO 柴田超原子分解能電子顕微鏡プロジェクト
ご好評につき満員御礼となりました。
STEMを用いて試料に電子プローブを照射・走査しそれぞれの位置から電子回折図形を取得し解析する4D-STEMは電子顕微鏡本体・検出器・解析手法の進歩とともにその利用が増えてきており、注目されています。今回4D-STEMに関するワークショップを東京大学およびDECTRIS社と共同で開催することになりました。最先端で活躍する先生からの講義だけでなく、実際に装置に取り付けられた4D-STEMの機能を用いた実習・解析もプログラムに盛り込んでおります。ご興味のある方はこれを機会に是非ご参加ください。
開催日
2025年6月4日（水）、5日（木）の2日間
会場
東京大学大学院工学系研究科・総合研究機構 工学部9号館 大会議室
地図はこちら
参加費
無料
参加人数
16名（先着順）
プログラム詳細
6月4日（水）
| 時間 | 題名 | 講演者 |
|---|---|---|
| 9:00～ | 受付 | |
| 9:45～ | 開会の挨拶 | |
| 10:00～ | How pixel detectors are adding new dimensions to STEM imaging |
Dr. Scott Findlay (Monash University) |
| 10:45～ | Workflow for Near Real-Time Processing of Large 4D STEM Experimental Datasets |
Dr. Daniel Stroppa (DECTRIS AG) |
| 11:15～ | 統合分析プラットフォーム"FEMTUSTM"の紹介 |
奥西 栄治 （日本電子株式会社） |
| 11:45～ | 昼食・休憩 | |
| 13:15～ | ARINAを活用した4D STEMライブ観察アプリケーションの開発 |
田畑 浩大 （東京大学大学院工学系研究科） |
| 13:45～ | ハンズオン：2班に分かれてARINAを使ったデータ取得、取得データを用いたデータ解析をハンズオンで学びます。 | |
| 17:00～ | 質疑応答 |
6月5日（木）
| 時間 | 題名 |
|---|---|
| 9:00～ | ハンズオン：2班に分かれてARINAを使ったデータ取得、取得データを用いたデータ解析をハンズオンで学びます。 |
| 12:15～ | 昼食・休憩 |
| 13:30～ | オープンディスカッション |
| 15:00～ | 閉会 |
※プログラムは予告なく変更になる場合がございます。あらかじめご了承ください。
お申し込み方法
ご好評につき満員御礼となりました。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部
jeol_event[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
