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4D-STEM ワークショップのご案内

公開日: 2025/04/28

主催:DECTRIS AG, 日本電子株式会社
共催:JST ERATO 柴田超原子分解能電子顕微鏡プロジェクト

STEMを用いて試料に電子プローブを照射・走査しそれぞれの位置から電子回折図形を取得し解析する4D-STEMは電子顕微鏡本体・検出器・解析手法の進歩とともにその利用が増えてきており、注目されています。今回4D-STEMに関するワークショップを東京大学およびDECTRIS社と共同で開催することになりました。最先端で活躍する先生からの講義だけでなく、実際に装置に取り付けられた4D-STEMの機能を用いた実習・解析もプログラムに盛り込んでおります。ご興味のある方はこれを機会に是非ご参加ください。

開催日

2025年6月4日(水)、5日(木)の2日間

会場

東京大学大学院工学系研究科・総合研究機構 工学部9号館 大会議室
地図はこちら

参加費

無料

参加人数

16名(先着順)

プログラム詳細

6月4日(水)

時間 題名 講演者
9:00~ 受付
9:45~ 開会の挨拶
10:00~ How pixel detectors are adding new dimensions to STEM imaging Dr. Scott Findlay
(Monash University)
10:45~ Workflow for Near Real-Time Processing of Large 4D STEM Experimental Datasets Dr. Daniel Stroppa
(DECTRIS AG)
11:15~ 統合分析プラットフォーム"FEMTUSTM"の紹介 奥西 栄治
(日本電子株式会社)
11:45~ 昼食・休憩
13:15~ ARINAを活用した4D STEMライブ観察アプリケーションの開発 田畑 浩大
(東京大学大学院工学系研究科)
13:45~ ハンズオン:2班に分かれてARINAを使ったデータ取得、取得データを用いたデータ解析をハンズオンで学びます。
17:00~ 質疑応答
 

6月5日(木)

時間 題名
9:00~ ハンズオン:2班に分かれてARINAを使ったデータ取得、取得データを用いたデータ解析をハンズオンで学びます。
12:15~ 昼食・休憩
13:30~ オープンディスカッション
15:00~ 閉会

※プログラムは予告なく変更になる場合がございます。あらかじめご了承ください。

お申し込み方法

下記よりお申し込みください。

お問い合わせ

日本電子株式会社
デマンド推進本部
jeol_event[at]jeol.co.jp

  • [at]は@に、ご変更ください。
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