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〈表面分析実践講座2025〉実践! 最新走査電子顕微鏡実習 実際の作業を通して身につける最新技術

公開日: 2025/06/24

近年の走査電子顕微鏡(SEM)は、形状観察にとどまらず、各種検出器を駆使した多様な分析が可能となっており、その応用範囲はますます広がっています。 本講座では、SEMの使用経験をお持ちの方を対象に、基礎から応用に至る講義と、最新機種を用いた実習を通じて、原理の理解を深めるとともに、実践的なオペレーション技術の習得を目指します。実習では、専門家の指導のもと、各種検出器の使用法、低加速電圧による観察・分析に加え、最新の元素分析技術である軟X線分光器(SXES)の活用法についても体験的に学んでいただきます。SEMのさらなる理解とスキル向上を目指す皆様のご参加をお待ちしております。

開催日

2025年8月4日(月)、8月5日(火)

会場

日本電子株式会社 開発館
〒196-8558 東京都昭島市武蔵野3-1-2 ( 地図 )
交通アクセス:JR 青梅 (おうめ) 線 中神 (なかがみ) 駅 北口より徒歩約10分・立川駅 北口よりタクシーで約15分

受講料

有料 (学会サイトをご参照ください)

定員

12名 (定員に達し次第締め切ります)

お申し込み方法

下記、学会のサイトよりお申し込みください。

 

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