2017/12/13

このたび、食品や医薬品の包材や工業材料・製品など、様々な分野で幅広く用いられている高分子(ポリマー)をメインテーマとした、高分子分析セミナー~基礎から応用まで~を開催いたします。
高分子の構造や特性、両者の相関関係などを解析・評価して、開発や製造にフィードバックすることは、高分子材料や高分子製品の性能向上や品質管理に非常に重要です。
一方、日本の産業を支える機能性高分子は、高度化・複雑化が進み、そのキャラクタリゼーションは日々困難になっており、多岐にわたる手法を組み合わせた多層解析の重要性が増しています。
本セミナーでは、高分子の分析に利用されている装置群およびそのアプリケーションを紹介するとともに、先端技術・材料開発の一助となるソリューションのご提案をさせていただきます。
時節柄、大変ご多忙とは存じますが、何卒ご参加くださいますよう、謹んでお願い申し上げます。

主催:日本電子株式会社、東京大学・日本電子産学連携室
協賛:日本分光株式会社

開催日/会場

  • 日程:
    2018年1月24日(水) 13:00~18:30 (受付開始12:30~)
  • 会場:
    東京大学 武田先端知ビル5階 武田ホール
    〒113-8656 東京都文京区弥生2-11-16
    TEL 03-3812-8524
    地図

お申し込み

  • 参加費:
    無料
  • 定員:
    120名 (事前予約制、先着順)
  • お申し込み方法:
    ※定員となりました。ご応募ありがとうございました。

プログラム

時間 演題
発表者
12:30~ 受付
13:00~13:10 開演ご挨拶
13:10~13:40 高分子材料を観る
日本電子株式会社 SM事業ユニット 金子 剛
13:40~14:10 高分子材料のTEM観察 ~凍結割断レプリカ法~
日本電子株式会社 フィールドソリューション事業部 中山 智香子
14:10~14:40 高分子材料に対するNMRの実用事例
株式会社JEOL RESONANCE 技術部 下池田 勇一
14:40~15:00 高分解能X線CTによる多彩な材料構造解析事例
日本電子株式会社 科学・計測機器営業本部 増子 倫也
15:00~15:30 休憩&装置、ポスター展示
展示装置:
卓上走査電子顕微鏡 JCM-6000Plus NeoScope™
フーリエ変換赤外分光光度計 FT/IR-4600、赤外顕微鏡IRT-5200
15:30~16:00 FTIRを用いた高分子関連の評価技術
日本分光株式会社 光分析ソリューション部 赤尾 賢一
16:00~16:20 質量分析(MS)基礎と材料分析アプリケーションのご紹介
日本電子株式会社 MS事業ユニット 生方 正章
16:20~17:20 特別講演
高分子材料分析の実際 ~熱分解分析・分離分析・質量分析を中心に~

名古屋工業大学 大学院工学研究科ながれ領域 教授 大谷 肇 様
17:20~17:30 閉会ご挨拶
17:30~18:30 ミキサー
※プログラムは予告無く変更させて頂く場合がございます。予めご了承頂きますようお願い申し上げます。

お問い合わせ

日本電子株式会社
高分子分析セミナー事務局 井上、内野
〒100-0004 東京都千代田区大手町2-1-1 大手町野村ビル13階
TEL:03-6262-3560・FAX:03-6262-3577
E-Mail:yokogushi@jeol.co.jp