SEMによるマッピングをもう一歩先へ ~最新の静電半球型アナライザーを用いた高空間分解能、化学状態マップ~(WEBセミナー)

2018/04/09

走査電子顕微鏡(SEM)に静電半球型アナライザーを搭載したオージェ電子分光装置は、SEMによる形態の観察に加え、物質最表面の元素分析や化学状態分析を可能とします。
静電半球型アナライザーもマッピングに適用できるため、高い空間分解能かつ、化学状態の情報も同時に得ることができます。
今回のWEBセミナーではこれらの高空間分解能および化学結合状態別にマッピングを行った結果を紹介します。

本セミナーは、Web上で開催されます。Webに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

主催: 日本電子株式会社

開催日/詳細

  • 日程:
    2018年4月20日(火) 16:00~16:30

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参加費/定員

  • 参加費:
    無料
  • 定員: 200名
    ※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。

お申し込み方法

  • 以下のURLからお申し込み画面にアクセスしてください。
    https://jeolg.webex.com/jeolg/onstage/g.php?MTID=e272b8b301eca5854ab5e7ad74e25a367

    WEBセミナーの登録・参加の手順はこちら (PDF 591KB)をご覧ください。
    初回参加時は、シスコシステムズ合同会社が提供するセミナー閲覧用アプリをインストールする必要があります。
    セミナー参加時に案内表示が出ますので、それに従いインストールをお願いいたします。所要時間は1分程度です。

    同業者の方のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進部 企画グループ
    担当: 廣川(ひろかわ)、嶋田(しまだ)
    TEL: 03-6262-3560