ICPユーザー必見!ED-XRFによる微量元素の検出下限 ~スクリーニングからppmオーダー分析まで~ (WEBセミナー) *動画公開中*

2018/06/27
(更新日: 2019/06/03)

元素分析は鋼種判定・品質管理・有害物質規制など様々な場面で行われており、その際用いる元素分析法は、着目元素の濃度に応じて適切なものを選択する必要があります。 例えば微量分析は、高周波誘導結合プラズマ(ICP)発光分光法などの湿式分析法がよく用いられています。

エネルギー分散型蛍光X線分析法(ED-XRF)は、非破壊・迅速・簡便な元素分析法として知られています。 今回、ED-XRFによる各元素の検出下限を算出し、さらに定量精度を評価しました。 ED-XRFがどの濃度に対して元素分析を行えるのか、実例とともにご紹介します。

主催: 日本電子株式会社

開催日/詳細

  • 日程:
    2018年11月16日(金) 16:00~16:30

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参加費/定員

  • 参加費:
    無料
  • 定員: 200名
    ※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。

お申し込み方法

  • 以下のURLからお申し込み画面にアクセスしてください。
    https://jeolg.webex.com/jeolg/onstage/g.php?MTID=eebdc7ea14ef0bda5605778c4df8274d0

    WEBセミナーの登録・参加の手順はこちら (PDF 588KB)をご覧ください。
    初回参加時は、シスコシステムズ合同会社が提供するセミナー閲覧用アプリをインストールする必要があります。
    セミナー参加時に案内表示が出ますので、それに従いインストールをお願いいたします。所要時間は1分程度です。

    同業者の方のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進部 企画グループ
    担当: 廣川(ひろかわ)・嶋田(しまだ)
    TEL: 03-6262-3560

動画

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ICPユーザー必見!ED-XRFによる微量元素の検出下限 ~スクリーニングからppmオーダー分析まで~