2018/11/07

このたび、弊社西日本ソリューションセンターでは、日ごろ分析業務に携わられている方を対象に「JEOL材料分析ソリューションセミナー2018」を企画致しました。
本セミナーでは、材料分析をテーマに質量分析やμCTを用いたアプリケーション、電子顕微鏡観察のための前処理法のご紹介を行います。
また、休憩時間や技術相談のお時間に弊社技術員とディスカッション出来る時間も設けております。
日常業務で苦労されていること、悩まれていることがありましたら是非ご参加いただき解決の糸口としていただければ幸いです。
時節柄大変ご多忙とは存じますが、何卒ご参加くださいますよう謹んでご案内申し上げます。

主催:日本電子株式会社

開催日/会場

  • 日時:
    2018年12月6日 (木) 13:00~17:00 (受付 12:30~ )
  • 会場:
    日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター
    大阪府大阪市淀川区西中島5-14-5 ニッセイ新大阪南口ビル1階
    TEL:06-6305-0121
    地図
  • 交通アクセス:
    JR新大阪駅 中央口 徒歩5分
    地下鉄御堂筋線 新大阪駅南口 (7番出口) 徒歩2分
    ※駐車場の準備はございません。公共交通機関をご利用下さい。

お申し込み

  • 参加費:
    無料
  • 定員:
    30名 ※定員となり次第締め切らせていただきます。
  • お申し込み方法:
    参加申込書(PDF: 229.4KB) に必要事項を記入の上、FAXにてお申込み下さい。
  • お申し込み締め切り:
    2018年11月30日(金)

プログラム

12:30~13:00 受付
13:00~13:10 開催のご挨拶
13:10~13:40 イオンビームによる前処理法 断面試料作製技術の基礎から応用まで
13:40~14:30 バラエティ豊かなイオン化法と質量分析装置を活用した高分子材料の解析
14:30~14:50 休憩
14:50~15:20 ソフトマテリアルの電子顕微鏡観察及び前処理法
15:20~16:00 μCTによる材料解析~高分解能X線CTによる多彩な材料構造解析~
16:00~16:10 閉会のご挨拶
16:10~17:00 技術懇談会
*プログラム内容は都合により変更となる場合があります。予めご了承ください。

お問い合わせ先

  • 日本電子株式会社 大阪支店 大阪SIグループ
    米田(よねだ)・荒家(あらいえ)
    TEL 06-6304-3942 ・ FAX 06-6304-7377