2019/06/04
(更新日:2019/11/8)

本年のTEMユーザーズミーティングは下記の日程での開催を予定しております。
さまざまな分野を網羅した新技術情報や実践的技術情報をお届けします。会場では、ポスターの展示、懇親会も予定しておりますので、情報交換の場として有意義にご活用いただければ幸いです。
また、本年はより多くの方に参加していただけるように会場を変更し、「浅草橋ヒューリックホール」にて開催いたします。
ご多忙の折とは存じますが、皆様のご参加を心よりお待ち申し上げております。

日本電子株式会社
東京大学・日本電子産学連携室
東京大学・ 微細構造解析プラットフォーム

※ご連絡※

  • ご来場の際、受付で名刺を頂戴します。お手数ですが事前にご用意をお願いします。
  • 本ユーザーズミーティングのご参加は、弊社装置をお使いの方に限らせていただきます。
  • 同業他社様、代理店様の方々のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

開催日/会場

  • 日程:
    2019年12月20日(金)
  • 会場:
    浅草橋ヒューリックホール
    〒111-0053 東京都台東区浅草橋1-22-16 ヒューリック浅草橋ビル 2階
    地図
  • アクセス:
    JR総武線「浅草橋駅 (西口)」より徒歩1分
    都営浅草線「浅草橋駅 (A3出口)」より徒歩2分

※1階のオフィスエントランスからは来場いただけません。外階段、又は外エレベーターから2階へご来場をお願いします。

お申し込み

  • お申し込み方法:
    • 参加費:
      無料
    • 申込締切:
      12月13日(金) ※定員になり次第、締め切らせて頂きます。
    • お申し込み方法:
      こちらのフォーム からお申し込みください。
      ※フォームからお申込みできない場合は、お手数ですが下記事務局までご連絡ください。
      ユーザーズミーティング事務局 jeolum☆jeol.co.jp (「☆」は「@」に置き換えてください。)

プログラム

時間 タイトル
演者
9:30~10:00 受付
10:00~10:10 開会の挨拶
10:10~10:30 JEM-1400Flashによる広視野観察とそのCLEMへの応用
日本電子株式会社 EM事業ユニット EMアプリケーション部 濱元 千絵子
10:30~11:00 Latest Developments in In-Situ TEM
Protochips, Inc. MR. Joe Sanguedolce
11:00~11:40 ガス環境実験など最新の超高圧電子顕微鏡の利用例
名古屋大学 未来材料・システム研究所 超高圧電子顕微鏡施設 荒井 重勇 様
11:40~12:00 超高感度X線検出システムを搭載した収差補正電子顕微鏡の紹介
日本電子株式会社 EM事業ユニット EMアプリケーション部 大西 市朗
12:00~13:30 昼 食(ポスター展示セッション)
13:30~14:20 クライオED,EMによる高分解能高精度解析 -電子線三次元結晶解析と単粒子解析-
理化学研究所 放射光科学研究センター 生体機構研究グループ 米倉 功治 様
14:20~14:50 TEM,FIB-SEMによる機能性材料の三次元構造可視化
株式会社日産アーク 機能解析部 構造・反応解析室 島貫 純一 様
14:50~15:20 休 憩(ポスター展示セッション)
15:20~16:10 DPC STEM法の基礎と応用
東京大学 大学院工学系研究科 総合研究機構 柴田 直哉 様
16:10~16:40 DPC-STEMによるソフトマテリアルの可視化および3次元観察
株式会社東レリサーチセンター 形態科学研究部 稲元 伸 様
16:40~16:50 閉会挨拶
16:50~ 懇親会

※プログラムは予告無く変更させて頂く場合がございます。予めご了承頂きますようお願い申し上げます。

お問い合わせ

日本電子株式会社
ユーザーズミーティング事務局
担当: 内野(うちの)・廣川(ひろかわ)
TEL: 03-6262-3560 ・ FAX: 03-6262-3577