2019/06/12

(更新日:2019/6/20)

本セミナーでは、超高分解能MALDI-TOFMS JMS-S3000によるKendrick Mass Defect (KMD) 解析を活用した合成高分子の組成分析やマスイメージング、熱分解GC-MS等での未知成分(EIマススペクトルライブラリに登録されていない成分)解析に威力を発揮する高分解能GC-MS JMS-T200GCシリーズ専用自動定性解析プログラム msFineAnalysis Ver.2 をご紹介いたします。
また、産業技術総合研究所・佐藤浩昭先生を講師にお迎えし、超高分解能MALDI-TOFMSや多彩なソフトイオン化が可能な高分解能GC-MSを駆使した、KMD法を用いたデータの可視化等による工業材料の最新解析事例の実際についてご紹介いただきます。
株式会社バイオクロマト様からは、弊社が開発した世界初のアンビエントイオン源 DART™ に付加される、バイオクロマト製熱脱離・熱分解装置 ionRocket を用いた工業材料の迅速解析について、ネッチ・ジャパン株式会社様からは、ネッチ製熱重量測定装置(TG)と、弊社製四重極MS・TOFMSとを組み合わせた TG-MS 装置による最新の工業材料解析についてご紹介いただきます。

主催:日本電子株式会社

開催日/会場

  • 日程:
    2019年7月5日(金) 13:30~17:00 (受付開始13:00より)
  • 会場:
    日本電子株式会社 大手町事務所
    〒100-0004 東京都千代田区大手町2-1-1 大手町野村ビル18階
  • 交通アクセス:
    東京メトロ東西線 大手町駅(B2a出口)
    東京メトロ丸の内線 大手町駅(A5出口)
    JR東京駅 丸の内北口徒歩5分
    地図
    ※駐車場の準備はございません。公共交通機関をご利用下さい。

お申し込み

  • 参加費:
    無料
  • 定員:
    40名
    ※先着順での受付となります。お早目にお申込み下さい。
  • お申し込み方法: 
    ※定員になりました。ご応募ありがとうございました。

プログラム

時間 題名・演者
13:00~ 受付
13:30~14:00 高分解能MALDI-TOFMSによる合成高分子解析の挑戦
~ケンドリックマスディフェクト解析を活用した組成分析とマスイメージング~

日本電子株式会社 佐藤 貴弥
14:00~14:30 高分解能GC-MSをより身近にする自動定性解析プログラム msFineAnalysis Ver.2のご紹介
日本電子株式会社 生方 正章
14:30~15:00 熱脱着・熱分解DART-MSによる、材料の無処理・迅速分析法のご紹介
株式会社バイオクロマト 吉沢 賢一 様
15:00~15:30 休憩
15:30~16:30 材料分析分野のおける高分解能質量分析の活用
国立研究開発法人 産業技術総合研究所 機能化学研究部門 高分子化学グループ長 佐藤 浩昭 様
16:30~17:00 TG-MSの基礎と最新技術についてのご紹介
ネッチ・ジャパン株式会社 佐藤 健太

※ プログラムは変更される場合があります。予めご了承ください。

お問合せ

日本電子株式会社
科学・計測機器営業本部
山本(やまもと)・小西(こにし)
TEL: 03-6262-3567
FAX: 03-6262-3577