2019/08/22

透過型電子顕微鏡と環境セル型試料ホルダーを組み合わせたその場観察・分析についてご紹介いたします。

本セミナーは、WEB上で開催されます。Webに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

主催: 日本電子株式会社

開催日/詳細

  • 日程:
    2019年9月27日(金) 16:00~16:30 

関連製品

透過電子顕微鏡
プロトチップス In-Situ 観察用試料ホルダー 加熱・印加試料ホルダー
プロトチップス In-Situ 観察用試料ホルダ 液中観察試料ホルダー

参加費/定員

  • 参加費:
    無料
  • 定員:
    200名
    ※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。

お申し込み方法

  • 以下のURLからお申し込み画面にアクセスしてください。
    https://jeolg.webex.com/jeolg/onstage/g.php?MTID=e1d4503f5a6c4368eba0f53feaf7ad098


    WEBセミナーの登録・参加の手順はこちら (PDF 588KB)をご覧ください。
    初回参加時は、シスコシステムズ合同会社が提供するセミナー閲覧用アプリをインストールする必要があります。
    セミナー参加時に案内表示が出ますので、それに従いインストールをお願いいたします。所要時間は1分程度です。

    競合他者の方のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進部 企画グループ
    担当: 廣川(ひろかわ)・嶋田(しまだ)
    TEL: 03-6262-3560