FE-SEMで働き方改革!観察からEDS分析までをハイスループット操作! (WEBセミナー)

2019/08/23

電界放出形走査電子顕微鏡において、観察からEDS分析までを短時間で作業可能なハイスループット装置を紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。Webに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

主催: 日本電子株式会社

開催日/詳細

  • 日程:
    2019年9月13日(金) 16:00~16:30

関連製品:

JSM-F100 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

参加費/定員

  • 参加費:
    無料
  • 定員:
    200名
    ※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。

お申し込み方法

  • 以下のURLからお申し込み画面にアクセスしてください。
    https://jeolg.webex.com/jeolg/onstage/g.php?MTID=e42d1bbfa5784c0873738137fe6701187


    WEBセミナーの登録・参加の手順はこちら (PDF 588KB)をご覧ください。
    初回参加時は、シスコシステムズ合同会社が提供するセミナー閲覧用アプリをインストールする必要があります。
    セミナー参加時に案内表示が出ますので、それに従いインストールをお願いいたします。所要時間は1分程度です。

    競合他社の方のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進部 企画グループ
    担当: 廣川(ひろかわ)・嶋田(しまだ)
    TEL: 03-6262-3560