2020/02/10
(更新日: 2020/3/5)

SEMを用いた観察の際、より低い加速電圧を用いることで表面敏感に観察することが可能です。しかしながら表面のEDS分析を行う場合、例えば未知試料の分析では定性などを考えるとX線を励起するために6~7 kV以上の加速電圧が必要となり、必ずしも表面敏感な分析ができるとは限りません。
ところがAESを用いれば高加速電圧を用いても、表面約6 nmの分析を行うことができます。本セミナーでは、EDSとAESとの分析深さの違いについて分析の実例を踏まえて紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

主催: 日本電子株式会社

開催日/詳細

  • 日程:
    2020年2月28日(金)16:00~16:30

関連製品

参加費/定員

  • 参加費:
    無料
  • 定員:
    200名
    ※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。

お申し込み方法

  • 以下のURLからお申し込み画面にアクセスしてください。
    https://jeolg.webex.com/jeolg/onstage/g.php?MTID=ed28f6e488cb8c15b08dd65062b2ea1fd


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    初回参加時は、シスコシステムズ合同会社が提供するセミナー閲覧用アプリをインストールする必要があります。
    セミナー参加時に案内表示が出ますので、それに従いインストールをお願いいたします。所要時間は1分程度です。

    競合他社の方のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進部 企画グループ
    担当: 廣川(ひろかわ)・嶋田(しまだ)
    TEL: 03-6262-3560

動画

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AESを使った金電極表面の汚れ・異物解析