美麗な像が未来をつくる ~新型検出器を搭載した最新FE-SEMのご紹介~ FIB-SEMによる最新3Dアプリケーションのご紹介 (WEBセミナー)

2020/05/22

日本顕微鏡学会 第76回学術講演会ランチョンセミナーで予定していた講演をWEBセミナーで開催します。

【第一部】 美麗な像が未来をつくる ~新型検出器を搭載した最新FE-SEMのご紹介~

最新のFE-SEMは、高空間分解能観察および分析が行えるだけではなく、高い操作性が必要です。
高い操作性を実現させる重要な要素として二つあります。
一つは直感的な操作を可能にするGUI、もう一つは明るい電子顕微鏡像です。
このような要素を満たす技術として汎用型SEMに採用している光学顕微鏡像とSEM像を一体化するZeromagやEDSインテグレーションなどの機能をハイエンドSEMへ積極的に導入し、さらに試料から発生した電子の検出効率を大幅に向上させ、高いS/Nで明るい像取得が可能な新型検出器を開発しFE-SEMに搭載しました。
本セミナーでは、新たなGUIと新型検出器による高い操作性と優れた空間分解能を有する最新FE-SEMの特長を紹介します。

【第二部】FIB-SEMによる最新3Dアプリケーションのご紹介

FIB/SEM複合装置の大きな特長の1つとして三次元像の構築が挙げられます。
主に反射電子像(組成構造)を用いて3次元構築を行いますが、本装置には元素分析を行うEDS検出器と結晶法解析を行うEBSD検出器の取付も可能となり、それらの三次元測定も可能となります。
本発表では、反射電子像(組成構造)に加え、EDS分析、EBSD解析について三次元構築の事例を紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

主催: 日本電子株式会社

開催日/詳細

  • 日程:
    2020年5月25日(月)
    【第一部】 16:00~16:25
    【第二部】 16:25~16:50

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参加費/定員

  • 参加費:
    無料
  • 定員:
    200名
    ※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。

お申し込み方法

  • お申込みはこちらから

    ※WEBセミナーの登録・参加方法に変更があります。詳細は こちら (PDF 955KB)をご覧ください。
    ※WEBセミナー開催当日の午前中までにご参加登録いただいた方のみに事前配布資料をお送りします。それ以降にご参加登録いただいた方はセミナー終了後の配布となりますのでご了承ください。

    ※競合他社の方のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    デマンド推進本部
    廣川 (ひろかわ) 
    jeol_event[at]jeol.co.jp
    ※ [at]は@に、ご変更ください。