2020/08/06

JEM-1400Flashには、超広域モンタージュ画像を自動で撮影できる「Limitless Panorama」機能が標準で搭載されており、 超広域&高精細画像を簡単に取得することができます。さら撮影予約機能により、複数個所の撮影を自動で行うことも可能です。
また、広視野観察に最適な試料台「SiN window chip」の使用によりミリメートルサイズの視野観察が可能になりましたので、 視野カットなどのストレスなく目的個所を素早く見つけることができます。
本セミナーでは、JEM-1400FlashとSiN window chipを用いた大面積観察の特長についてご紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

主催: 日本電子株式会社

 

開催日/詳細

  • 日程:
    2020年9月25日 (金) 16:00~16:30

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参加費/定員

  • 参加費:
    無料
  • 定員:
    200名
    ※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。

お申し込み方法


※登録・参加方法の詳細は こちら (PDF 955KB)をご覧ください。
※WEBセミナー開催当日の午前中までにご参加登録いただいた方のみに事前配布資料をお送りします。それ以降にご参加登録いただいた方はセミナー終了後の配布となりますのでご了承ください。
※競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    デマンド推進本部 WEBセミナー事務局 
    sales1[at]jeol.co.jp
    ※ [at]は@に、ご変更ください。