X線マイクロCTで出来ること ~その応用と活用例~

2020/12/09

X線マイクロCTは試料の内部構造を非破壊で可視化することができます。また、得られた2D断層画像を基に再構築される3Dイメージの解析により、物理構造の定量的な評価も可能です。
実際にどのような解析情報が取得できるのか、構造解析事例を交えて紹介します。さらに、電子顕微鏡の観察用サンプルを前処理加工する際に有用な3Dイメージの取得・利用法など、その活用例についても紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

"このウェビナーから学べること"

  • X線CTでの撮像とデータ解析の実際
  • 装置の活用法

講演者:

寺嶋 博

日本電子株式会社
SIフィールド本部
産業・環境機器サポート部
EGグループ

講演者

開催日/詳細

  • 講演日時:
    2021年1月29日 (金) 16:00~16:30

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参加費

  • 参加費:
    無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法


※登録・参加方法の詳細は こちら (PDF 524KB)をご覧ください。
※ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。
詳細は こちら をご覧ください。
※競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    デマンド推進本部 ウェビナー事務局 
    sales1[at]jeol.co.jp
    ※ [at]は@に、ご変更ください。