試料を冷やしてダメージ軽減!ソフトマテリアルや含水試料の観察!

2021/06/21
(更新日: 2021/7/2)

ソフトマテリアルや含水試料は、SEM観察が難しい試料です。これらの試料に対して、従来はクライオシステムを用いて観察していましたが、冷却ホルダーとSEMの低真空 (LV:Low Vaccum) 機能を用いる手法 (LV冷却法) により、同様の観察が簡便に行えます。
今回は、本手法の紹介と観察例およびノウハウについて解説します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

"このウェビナーから学べること"

  • 試料ダメージの軽減方法
  • 含水試料の観察方法
  • 冷却ホルダーの使用方法

"参加いただきたいお客様"

  • LV-SEMをお持ちの方
  • SEM観察中に試料のダメージでお困りの方
  • 含水試料のSEM観察を諦めている方
  • 専用冷却システムの導入が難しい方

講演者:

池谷 綾美

日本電子株式会社
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
SEMグループ 第2チーム

講演者

開催日/詳細

  • 2021年9月14日 (火) 10:00~11:00
    講演後に質疑応答の時間があります。
    ※ 開催時間を変更しました。

関連製品

参加費

  • 無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法


※登録・参加方法の詳細は こちら (PDF 524KB)をご覧ください。
※ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。
詳細は こちら をご覧ください。
※競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    デマンド推進本部 ウェビナー事務局 
    sales1[at]jeol.co.jp
    ※ [at]は@に、ご変更ください。