全固体電池材料 / シリコン負極・固体電解質の分析事例紹介

2021/09/10

リチウムイオン電池の中で日本が先行する全固体電池が昨今注目を集めています。
発煙・発火のリスクを抱える現状のリチウムイオン電池に比べ、安全面と高いエネルギー密度から自動車への普及も期待されています。
全固体電池で研究が進められているシリコン負極・固体電解質の材料について豊橋技術科学大学・松田教授にご協力を頂き、本ウェビナーでは全固体電池の概要からJEOLの各装置で行った分析事例をご紹介いたします。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

"このウェビナーから学べること"

  • 全固体電池の概要
  • シリコン負極の分析事例(オージェマイクロプローブの新機能SIマッピング、SXESの活用方法など)
  • 固体電解質の分析事例(安全性・品質評価に向けた分析)
  • 非曝露環境におけるTEM用の試料作製

"参加いただきたいお客様"

  • 電池材料の研究・開発・製造をされている方
  • 工業材料の分析をされている方
  • 分析サービスに携わる方

開催日/詳細

  • 2021年10月15日 (金) 15:00~17:00
    各講演は、約15分です。

プログラム

題名 / 詳細 講演者
特別講演 全固体電池の構築に向けた硫化物系固体電解質とシリコン負極の複合化

固体電解質を用いた全固体リチウムイオン電池が、電池性能と安全性の面から注目されている。特に硫化物系固体電解質は、酸化物系に比べ、高い導電率と優れた成形性を有し、活物質と良好な界面を形成できる特長を有している。
本講演では、硫化物系固体電解質の合成と大容量負極材料として期待されるシリコンとの複合化について概説する。
松田 厚範 様

豊橋技術科学大学
電気・電子情報工学系
教授
講演者
講演1 AES-spectral imaging法によるLi分析

AESは、Liが検出できるだけでなく、その化学結合状態分析や面内分布の可視化が可能な手法です。
本発表では、新しくリリースされたspectral imaging機能を用いた全固体リチウムイオン電池の分析事例を紹介します。

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大阪支店
西日本ソリューションセンター
講演者
講演2 FIB-SEMによる大気非曝露TEM試料作製

全固体リチウムイオン電池のシリコン負極材を試料として、集束イオンビーム装置 (FIB) を用いた非曝露TEM試料作製プロセスをご紹介します。
クロスセクションポリッシャ (CP) から直接FIB-SEMへ試料搬送することで平滑なCP断面から試料作製が行うことができ、また試料室内マニピュレーターを取り付けたFIBを用いて大気に曝露することなく目的の部位から高品質なTEM試料作製が可能なプロセスです。

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FIBグループ
講演者
講演3 SEM-軟X線発光分光 (SXES) 法を用いた充電状態におけるシリコン負極の化学状態分析

全固体リチウムイオン電池内のシリコン負極について、SEMによる形態観察とEDSによる元素分析、SXESによる化学状態分析およびEBSDによる結晶解析を組み合わせた解析手法を紹介します。

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EP事ユニット
EPアプリケーション
SEMグループ 第3チーム
講演者
講演4 透過電子顕微鏡を用いたシリコン負極の評価

透過電子顕微鏡には様々な観察、分析手法がありますが、シリコン負極に対して様々な角度で評価を行った事例を紹介します。

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EMアプリケーション
第1グループ
第1チーム
講演者
講演5 TG-MSシステムでの硫化物系固体電解質のその場分析

近年、移動可能な高感度MSを開発した事により、MSを移動した"その場分析"や"オペランド観測"を行う事が可能となりました。
"その場分析"としてMSを移動し熱重量分析装置 (TG) と接続、測定した硫化物系固体電解質の事例を紹介します。

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MS技術開発
第3グループ
講演者
講演6 XPSを用いた充放電前後の固体電解質の状態分析

XPSは試料表面に存在する元素の定性・定量・状態分析が可能な手法です。
本発表では、充放電前後で固体電解質に含まれる元素の結合状態がどのように変化しているかを分析した結果を発表します。

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SA技術開発
第2グループ
講演者
講演7 NMRで観るLiイオンダイナミクス

NMRはLiを直接観測できる数少ない分析手法です。また活物質や電解質の構造だけでなくLiイオンのダイナミクスも解析できます。
本発表では固体電解質の解析例として、P観測による構造解析とLiイオンのダイナミクス解析をご紹介します。

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JEOL RESONANCE
技術部
アプリグループ
講演者

参加費

  • 無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法


※登録・参加方法の詳細は こちら (PDF 524KB)をご覧ください。
※ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。
詳細は こちら をご覧ください。
※競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    デマンド推進本部 ウェビナー事務局 
    sales1[at]jeol.co.jp
    ※ [at]は@に、ご変更ください。