SEMとμフォーカスX線CTを活用した3D構造評価のご紹介

2021/09/13

半導体・触媒・繊維・建築材料・自動車部材・加工食品・バイオマテリアル等、造形品の多くは軽量化に伴う構造補強や空隙コントロールによる浸透性制御等、多種多様な意味のある構造を持っています。
ここでは、試料内部構造をSEMとμフォーカスX線CTを使用してナノ~マイクロメーターオーダーのストラクチャー情報から品質の向上へ繋がる定量的構造評価の流れをご紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

"このウェビナーから学べること"

  • 試料内部構造の3D定量評価手法
  • μフォーカスX線CTを使用したSEM表面観察までのアプローチ
  • SEMとμフォーカスX線CTのコラボレーション活用

"参加いただきたいお客様"

  • 非破壊での3D構造解析に興味があるお客様
  • 広域での微小空隙や粒子の分散状態等を定量的に評価したいお客様
  • SEMやμフォーカスX線CT装置が無く、ナノ~μメートルオーダーの内部構造情報の取得をご依頼したいお客様

講演者

増子 倫也

科学計測機器営業本部
ソリューション推進室

講演者

開催日/詳細

  • 2021年11月2日 (火) 16:00~17:00
    講演後に質疑応答の時間があります。

関連製品

本セミナー参加者様限定でμフォーカスX線CT受託分析 特別価格キャンペーンを開催予定ですので、μCTフォーカスX線CT受託分析にご興味があるお客様は是非ご参加下さい。キャンペーン価格につきましては試料毎に異なりますので、μCTでの受託分析をご検討のお客様はセミナー受講後、是非ご相談下さい。
※年度内にご注文頂きましたお客様に限ります。

発表資料

  • 講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。

参加費

  • 無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法


※登録・参加方法の詳細は こちら (PDF 524KB)をご覧ください。
※ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。
詳細は こちら をご覧ください。
※競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    デマンド推進本部 ウェビナー事務局 
    sales1[at]jeol.co.jp
    ※ [at]は@に、ご変更ください。