異物の特定にこの一台!簡単便利なXRF-異物のサンプリングから分析までのコツ紹介-

2022/04/19

品質管理の場面において、製品に混入・付着した異物を特定することは、原因解明のために非常に重要です。
異物分析には様々な装置が用いられています。中でもエネルギー分散型蛍光X線分析装置 (XRF) は、非破壊で簡便に異物の元素情報を得ることができます。本発表ではXRFを用いた異物分析について、異物のサイズや、異物を製品から分離可能か等、異物の状態に合わせたサンプリング方法から異物特定までの分析のコツを、実例とともにご紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

"このウェビナーから学べること"

  • XRFで行える分析について
  • XRFを異物分析に用いるときの手順例
  • 日本電子製XRFであるJSX-1000Sを異物分析に用いた時に役立つ機能

"参加いただきたいお客様"

  • 異物分析で困ってらっしゃる方
  • XRFで行える分析にご興味がある方
  • XRFをお持ちで、今以上に活用したい方

講演者

村谷 直紀

SA事業ユニット
SA技術開発部
第2グループ

講演者

開催日/詳細

  • 2022年5月27日 (金) 16:00~17:00
  • 講演後に質疑応答の時間があります。

関連製品

発表資料

  • 講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。

参加費

  • 無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法


※登録・参加方法の詳細は こちら (PDF 524KB)をご覧ください。
※ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。
詳細は こちら をご覧ください。
※競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    デマンド推進本部 ウェビナー事務局 
    sales1[at]jeol.co.jp
    ※ [at]は@に、ご変更ください。