ルーティンワークはJSM-IT510におまかせ ~Simple SEMで変わるSEMの観察スタイル~

2022/06/10

走査電子顕微鏡 (SEM) は、今や研究開発だけでなく、品質保証や製品検査で幅広く使われています。これらの現場では、決められた条件で観察を繰り返すことが多く、作業の効率化が求められてきました。
JSM-IT510は、連続自動撮影機能 (Simple SEM) により、視野を設定するだけで観察作業をSEMに"おまかせ"できます。本講演では、Simple SEMの機能と実際の活用事例についてご紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

"このウェビナーから学べること"

  • 連続自動撮影機能 (Simple SEM) とその活用事例

"参加いただきたいお客様"

  • SEMの更新・導入を検討中のお客様
  • SEM観察を簡便に行いたいお客様
  • 品質保証、製品検査を担当されているお客様

講演者

小島 洋平

EP事業ユニット
EPアプリケーション部
SEMグループ
第2チーム

講演者

開催日/詳細

  • 2022年7月15日 (金) 16:00~17:00
  • 講演後に質疑応答の時間があります。

関連製品

発表資料

  • 講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。

参加費

  • 無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法


※登録・参加方法の詳細は こちら (PDF 524KB)をご覧ください。
※ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。
詳細は こちら をご覧ください。
※競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    デマンド推進本部 ウェビナー事務局 
    sales1[at]jeol.co.jp
    ※ [at]は@に、ご変更ください。