ルーティンワークはJSM-IT510におまかせ　～Simple SEMで変わるSEMの観察スタイル～

2022/06/10

走査電子顕微鏡 (SEM) は、今や研究開発だけでなく、品質保証や製品検査で幅広く使われています。これらの現場では、決められた条件で観察を繰り返すことが多く、作業の効率化が求められてきました。
JSM-IT510は、連続自動撮影機能 (Simple SEM) により、視野を設定するだけで観察作業をSEMに"おまかせ"できます。本講演では、Simple SEMの機能と実際の活用事例についてご紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

"このウェビナーから学べること"

連続自動撮影機能 (Simple SEM) とその活用事例

"参加いただきたいお客様"

SEMの更新・導入を検討中のお客様
SEM観察を簡便に行いたいお客様
品質保証、製品検査を担当されているお客様

講演者

小島　洋平

EP事業ユニット
EPアプリケーション部
SEMグループ
第2チーム

開催日/詳細

2022年7月15日 (金) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。

発表資料

講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。

参加費

無料（先着順での受付となります。お早目にお申込みください。）

お申し込み方法

お申込みはこちらから Register here

※登録・参加方法の詳細はこちら (PDF 524KB)をご覧ください。
※ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。
詳細はこちらをご覧ください。
※競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

日本電子株式会社
デマンド推進本部ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
※ [at]は＠に、ご変更ください。

ルーティンワークはJSM-IT510におまかせ ～Simple SEMで変わるSEMの観察スタイル～