透過電子顕微鏡を用いたその場観察システムの紹介

2022/06/21

透過電子顕微鏡 (TEM) でその場観察を行うニーズが高まっています。所有されるTEMにその場観察システムを導入することで、加熱や電圧印加のみならずガス中や液体中でのその場観察が可能になり、例えば触媒やメッキ反応過程などがリアルタイムで観察できるシステムが構築できます。
本ウェビナーでは、最新のその場観察システムを用いて、その場観察システムとはどういったものか?その場観察でどのようなデータが取得できるか?について紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

"このウェビナーから学べること"

  • 現有の透過電子顕微鏡を用いてどうやったらその場観察が可能になるのか?
  • その場観察の一連の方法について
  • 最新のその場観察システムについて

"参加いただきたいお客様"

  • これからその場観察を行ってみたいというTEMユーザー
  • その場観察システムとはどういうもの?という疑問がある方

講演者

福永 啓一

EM事業ユニット
EMアプリケーション部

講演者

開催日/詳細

  • 2022年7月22日 (金) 16:00~17:00
  • 講演後に質疑応答の時間があります。

関連製品

発表資料

  • 講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。

参加費

  • 無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法


※登録・参加方法の詳細は こちら (PDF 524KB)をご覧ください。
※ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。
詳細は こちら をご覧ください。
※競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    デマンド推進本部 ウェビナー事務局 
    sales1[at]jeol.co.jp
    ※ [at]は@に、ご変更ください。