第44回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS 2024) Best Commercial Session Presenter Award 選出のお知らせ
公開日： 2025/01/10
2024年11月12日～14日に開催された第44回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS 2024)にて当社社員である伊木田 木の実がBest Commercial Session Presenter Award に選出されました。
発表タイトル：
オージェ電子分光装置(JAMP-9510F)による“Spectrum Image”を用いたSiCデバイスpn接合の可視化
ナノテスティングシンポジウムは半導体不良解析を主題とし、国内外の半導体不良解析研究者が集まる国内学会で、年１度開催されています。今回、日本電子製 JAMP-9510FによるSiCのドーパント分析について紹介しました。次回のナノテスティングシンポジウムにて本受賞の表彰式が行われる予定です。
