電子顕微鏡関連 展示・セミナー
2020年5月25日（月）～27日（水）大阪国際交流センターで開催予定でした 「日本顕微鏡学会 第76回学術講演会」は、
新型コロナウイルス感染拡大に鑑み、会員および関係者各位の健康ならびに社会全体の安全確保の観点から集会での開催は中止となりました。
今回は展示会場で発表予定でした新製品の紹介、展示パネルやカタログの展示やセミナーをオンラインで開催いたします。
新製品紹介
新型ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 JSM-IT800
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2020.5.25
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2020.5.25
WEBセミナー
美麗な像が未来をつくる
～新型検出器を搭載した最新FE-SEMのご紹介～
2020年5月25日（月）16:00～16:25
最新のFE-SEMは、高空間分解能観察および分析が行えるだけではなく、高い操作性が必要です。
高い操作性を実現させる重要な要素として二つあります。
一つは直感的な操作を可能にするGUI、もう一つは明るい電子顕微鏡像です。
このような要素を満たす技術として汎用型SEMに採用している光学顕微鏡像とSEM像を一体化するZeromagやEDSインテグレーションなどの機能をハイエンドSEMへ積極的に導入し、さらに試料から発生した電子の検出効率を大幅に向上させ、高いS/Nで明るい像取得が可能な新型検出器を開発しFE-SEMに搭載しました。
本セミナーでは、新たなGUIと新型検出器による高い操作性と優れた空間分解能を有する最新FE-SEMの特長を紹介します。
講師 日本電子株式会社 EP事業ユニット 山口 祐樹
FIB-SEMによる最新3Dアプリケーションのご紹介
2020年5月25日（月）16:25～16:50
FIB/SEM複合装置の大きな特長の1つとして三次元像の構築が挙げられます。
主に反射電子像（組成構造）を用いて3次元構築を行いますが、本装置には元素分析を行うEDS検出器と結晶法解析を行うEBSD検出器の取付も可能となり、それらの三次元測定も可能となります。
本発表では、反射電子像（組成構造）に加え、EDS分析、EBSD解析について三次元構築の事例を紹介します。
講師 日本電子株式会社 科学・計測機器営業本部 河野 一郎
IDES社の最先端高速技術を用いた製品紹介
2020年5月27日（水）16:00～16:25
電子顕微鏡において、装置の発展により分解能および分析技術が格段に向上しました。
さらに、電子光源や偏向素子の応答を高速化させることにより、時間分解したデータの取得、或いはよりLow doseでの観察が可能となります。
この度JEOLはIDES社と協同して、高度な高速技術(μs, ns, psオーダー)を有した製品を開発しました。
1. 静電シャッターを用いた高速ブランキングSystem "Electrostatic dose modulator"
2. 高速タイリングSystem "Electrostatic sub-framing system"
3. レーザー励起によるパルス化したPhotoelectronを用いた時間分解能TEM "JEM-2100 time resolved TEM"
以上の内容を紹介します。
講師 日本電子株式会社 EM事業ユニット 沢田 英敬
新製品紹介
～超高空間分解能と高感度分析を両立させた収差補正顕微鏡GRAND ARMTM2 ～
2020年5月27日（水）16:25～16:50
弊社では、本年、JEM-ARM300Fのマイナーチェンジを行い、加速電圧300kV型の収差補正電子顕微鏡JEM-ARM300F2を新たに開発しました。
JEM-ARM300F2では、新型対物レンズポールピースFHP2が搭載可能であり、低加速から高加速までの様々な加速電圧にて、超高空間分解能観察と高感度X線分析を両立させました。
また、エンクロージャーカバー方式の採用などにより、従来機よりも電気的、機械的安定度を向上させました。
本講演では、FHP2やエンクロージャーなど新たに導入された技術・機能など、JEM－ARM300F2の特長とその応用例を紹介します。
講師 日本電子株式会社 EM事業ユニット 大西 市朗
展示パネル
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アプリケーションパネル
超高圧透過電子顕微鏡と四重極質量分析計の融合
- 構造解析から機能解析へ - -
透過電子顕微鏡（TEM）
原子分解能分析電子顕微鏡
JEM-ARM300F2 GRAND ARMTM2
原子分解能分析電子顕微鏡
JEM-ARM200F NEOARM
電界放出形クライオ電子顕微鏡
CRYO ARMTM
多機能電子顕微鏡
JEM-F200
透過電子顕微鏡
JEM-1400Flash -
走査電子顕微鏡（SEM）
卓上走査電子顕微鏡
JCM-7000 NeoScopeTM -
電子プローブマイクロアナライザ (EPMA)
電子プローブマイクロアナライザ
JXA-iHP200F / JXA-iSP100
軟X線分光器
SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer)/SXES-ER (Soft X-Ray Emission Spectrometer Extended Range) -
オージェマイクロプローブ (Auger)
フィールドエミッションオージェマイクロプローブ
JAMP-9510F -
集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
複合ビーム加工観察装置
JIB-4700F -
断面試料作製装置 (CP)
冷却クロスセクションポリッシャTM
IB-19520CCP -
サービス&ソリューション
分析機器シェアリングサービスのご紹介
受託分析のご紹介
電子顕微鏡用高精度冷却水循環装置 enoqua
技術資料
カタログ
製品のPDFカタログは右記ページからもダウンロードいただけます。
オンラインデモのご紹介
装置の導入を検討中のお客様にインターネット経由で装置の紹介や操作説明を行うサービスです。
複数の方が同時にご覧いただけます。音声通話も可能ですので、質疑応答もその場で行うことができます。
メリット
ご来社頂く必要がありません
出張承認が不要
多くの装置使用者で確認可能
報告／日報が不要
デモ後、速やかに仕事に戻れる
お申込みから実施までの流れ
ご希望の際は、お問い合わせフォームよりお申込みください。
担当者より折り返しご連絡を差し上げます。
その際、日時の調整やご要望等をお伺いします。指定日時に「オンラインデモ」を開始いたします。
当日はお電話またはPC音声マイクを通してご案内いたします。
お問い合わせ
日本電子はオンライン上での装置デモンストレーションや受託分析を行っております。
詳細は下記よりお問い合わせください。
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内容に応じて、担当部門より回答させていただきます。
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当社営業時間外のお問合せにつきましては、翌営業日以降の回答となります。
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