第61回電池討論会

第61回電池討論会

「第61回電池討論会」が11/18~20にWEB開催 (オンライン検討会) されます。
弊社は、マクロからナノスケールまでの幅広い視点で形態観察・表面分析・構造解析・化学分析に対応できるさまざまな分析装置を揃えており、 開発・研究、品質向上にお役立ちいただいております。電池分野におかれましても皆様へソリューションを提供し、研究・開発のご支援となるよう努めております。
電池材料の研究・開発に必要な電子顕微鏡をはじめ各種分析機器を展示いたします。

皆様のご来場を心よりお待ちしております。
なお、オンライン会場への入場につきましては登録制となりますので、お手数ですがご登録をお願いいたします。
事前登録いただきますと、開催当日にスムーズにご入場いただけます。

公式サイト
参加者用ログイン

動画 MOVIE

透過電子顕微鏡(TEM)

Atomic resolution EDS map by GRAND ARM™2 with FHP2 pole piece and 158mm2 dual SDD system

走査電子顕微鏡(SEM)

JSM-IT700HR

JSM-IT800

JSM-IT800 <SHL>

JCM-7000 かんたん操作 3つのポイント

イオンビーム応用装置 (FIB、IS、CP)

Focused Ion Beam System JIB-4000PLUS

軟X線分光器(SXES)

SXES(Soft X-Ray Emission Spectrometer) 軟X線分光器

電子プローブマイクロアナライザ (EPMA)

JXA-iHP200F / JXA- iSP100

核磁気共鳴装置 (NMR)

AUTOMAS-ハイスループット固体NMRシステム

受託分析

WEB立会いによる受託分析サービスのご紹介

ウェビナー Webinar

透過電子顕微鏡(TEM)

開催中

GRAND ARM™を超えたGRAND ARM™ "GRAND ARM™2"の紹介

GRAND ARM™2では、新たに開発された新型対物レンズ"FHP2"による超高空間分解能と 高感度元素分析が両立され、エンクロージャーで装置を囲うことにより環境、外乱対策の 強化を行っています。
また、ユーザービリティを追求した様々な新機能の追加も行っています。これらの新要素、新機能に加えて、最新のデータや新しいアタッチメントなどの紹介も行います。

講師 橋口 裕樹

日本電子株式会社 EM事業ユニット

発表日: 2020年9月9日(水)

開催中

CRYOARM™を用いた単粒子解析とワークフローの提案

コールド電子銃やオメガフィルターを標準搭載したユニークなクライオ電子顕微鏡 CRYOARM™による単粒子解析の事例をスループットや研究成果を用いて紹介します。
また、スクリーニングからデータ取得まで、自由度の高い CRYOARM™ならではの特徴を活かしたワークフローを提案します。複数のユーザー様がクライオ電子顕微鏡を使用する環境でのソリューションをご覧ください。

講師 牧野 文信 (工学博士)

日本電子株式会社 EM事業ユニット

発表日: 2020年8月21日(水)

開催中

JEM-1400FlashとSiN window chipを用いた大面積観察のすすめ

JEM-1400Flashには、超広域モンタージュ画像を自動で撮影できる「Limitless Panorama」機能が標準で搭載されており、 超広域&高精細画像を簡単に取得することができます。
さら撮影予約機能により、複数個所の撮影を自動で行うことも可能です。また、広視野観察に最適な試料台「SiN window chip」の使用によりミリメートルサイズの視野観察が可能になりましたので、 視野カットなどのストレスなく目的個所を素早く見つけることができます。本セミナーでは、JEM-1400FlashとSiN window chipを用いた大面積観察の特長についてご紹介します。

講師 濱元 千絵子

日本電子株式会社 EM事業ユニット

発表日: 2020年9月25日(水)

走査電子顕微鏡(SEM)

開催中

低加速電圧FE-SEMを用いた分析 ~微小領域分析とその手法~

講師 山本 康晶

日本電子株式会社 EPアプリケーション部

発表日: 2020年9月10日(木)

開催中

美麗な像が未来をつくる ~JSM-IT800‹SHL›の各検出器による情報選択~

JSM-IT800‹SHL›は情報選択を可能とする多種検出器を光軸上に搭載した最新のハイエンドFE-SEMです。
SEMは電子線の照射により試料から放出された電子を取得して像を形成します。しかし、試料が持つ様々な情報は、電子のエネルギーや放出角度によって異なり、多種類の検出器を使い分けることで必要な情報を選択することができます。一方、多種類の検出器の歴史は浅く、それを用いた応用紹介が少なく、オペレータはその検出器選択に困惑することがありました。
本セミナーでは、各検出器の特長と各検出器での情報選択について応用例を交えて紹介します。

講師 山本 康晶

日本電子株式会社 EPアプリケーション部

発表日: 2020年9月10日(木)

開催中

粒子解析による自動元素分析

SEM-EDSを用いた粒子解析は、自動で粒子形状解析や元素分析できる特徴を持ち、金属中の介在物の分析や科学捜査ツールの1つであるGSR (Gunshot residue) として使われてきました。近年ではアスベスト解析や、自動車清浄度等の異物検出などの幅広い分野での活躍が期待されています。
本セミナーでは、SEM-EDSを用いた粒子解析の仕組みや、測定事例について紹介します。

講師 鈴木 慎太朗

日本電子株式会社 EX事業ユニット

発表日: 2019年8月30日(金)

イオンビーム応用装置 (FIB、IS、CP)

開催中

電子機器部品の構造・欠陥解析 ~SIM像による三次元観察の応用事例~

シングルビームFIBのJIB-4000PLUSはSIM像による三次元観察が行えます。
SIM像のチャンネリングコントラストが鮮明に観察できる特徴から、結晶性試料などの三次元解析に有効な測定法です。IRカットフィルター上の欠陥で三次元観察を実施し、欠陥の発生原因を解析しました。また、セラミックコンデンサーの三次元観察を行い、内部にあるボイドを可視化するとともにボイドの分布とその割合を解析したので、その詳細を報告します。
※本セミナーは、SEMユーザーズミーティング2019で発表した内容の再演になります。

講師 山田 晶子

日本電子株式会社 EP事業ユニット

発表日: 2020年4月17日(金)

開催中

FIB-SEMによる最新3Dアプリケーションのご紹介

講師 三平 智宏

日本電子株式会社 EP事業ユニット

発表日: 2020年9月11日(金)

開催中

クロスセクションポリッシャ™(CP)を活用したLiイオン電池材料の前処理

『クロスセクションポリッシャ™(CP) を活用したLiイオン電池材料の前処理』という題目で、Liイオン電池材料のためのCP活用事例を紹介いたします。CPを用いることで、断面作製時の表面のダメージ層を数nm程度に抑制することができ、そのままオージェ電子分光法による分析も可能となります。本セミナーでは、CP断面作製時のコツや注意点などを中心に、具体的なCP加工方法の手順を紹介いたします。

講師

日本電子株式会社

発表日: 2017年1月27日(金)

軟X線分光器(SXES)

開催中

軟X線分析による高温腐食の解析

鉄鋼など金属材料の元素分析においては、400eV~1keV 付近に現れる遷移金属元素L線の高エネルギー分解能信号取得が要求されます。
新しい軟X線分光器 SXES-ERは、上記エネルギー領域を高エネルギー分解能で、かつパラレル信号検出が可能な回折格子、信号検出系を有するX線分光器です。
それを用いて、耐高温腐食材料である Ni基合金の高温腐食初期過程を分析した事例を紹介します。

講師 高倉 優

日本電子株式会社 SA事業ユニット

発表日: 2019年12月13日(金)

微小領域分析・表面分析装置 (EPMA、Auger、XPS、ESCA)

開催中

次世代のスマート操作を実現した新しいEPMAの紹介

"高精度な局所微量分析を簡単,迅速に"というコンセプトを元に、弊社は新しい電子プローブマイクロアナライザ (EPMA) であるJXA-iSP100とJXA-iHP200Fを開発しました。 SNS、Zeromag、Livemap等の便利な機能に加え、弊社XRFやEDSとの高度なインテグレーション分析など、画期的な新機能を搭載したEPMAです。当セミナーでは、鉛フリーはんだや鉱物試料など、実サンプルの分析事例を元に新しいEPMAを紹介いたします。

講師 上篠 栞

日本電子株式会社 SA事業ユニット

発表日: 2020年4月24日(金)

開催中

SEMによるマッピングをもう一歩先へ
~最新の静電半球型アナライザーを用いた高空間分解能、化学状態マップ~

走査電子顕微鏡(SEM)に静電半球型アナライザーを搭載したオージェ電子分光装置は、SEMによる形態の観察に加え、物質最表面の元素分析や化学状態分析を可能とします。
静電半球型アナライザーもマッピングに適用できるため、高い空間分解能かつ、化学状態の情報も同時に得ることができます。
今回のWEBセミナーではこれらの高空間分解能および化学結合状態別にマッピングを行った結果を紹介します。

講師 伊木田 木の実

日本電子株式会社 SA事業ユニット

発表日: 2018年4月20日(火)

開催中

XPSによるリチウムイオン電池の化学結合状態分析
~標準スペクトルの取得と利用方法~

リチウムイオン電池は充放電時に正極と負極間のリチウムイオンの移動とそれに伴う正極金属の価数変化等の反応が起きると言われており、様々な分析が行われています。
今回、XPSを用いて長期間使用した市販のリチウムイオン電池の正極と負極を分析したところ、正極だけでなく本来コバルトが含まれていないはずの負極にもコバルトが検出され、そのコバルトのスペクトル形状も正極と負極で異なっていました。それらの検出されたコバルトに対して、Co,CoO,Co3O4の標準スペクトルを用いて化学状態分析を行った結果をご報告します。

講師 村谷 直紀 / 島 政英 / 堤 健一

日本電子株式会社 SA事業ユニット

発表日: 2018年5月18日(金)

開催中

高速・高精度・高感度深さ方向分析装置の紹介
~新型XPS装置JPS-9030~

元素分析は鋼種判定・品質管理・有害物質規制など様々な場面で行われており、その際用いる元素分析法は、着目元素の濃度に応じて適切なものを選択する必要があります。 例えば微量分析は、高周波誘導結合プラズマ(ICP)発光分光法などの湿式分析法がよく用いられています。
エネルギー分散型蛍光X線分析法 (ED-XRF) は、非破壊・迅速・簡便な元素分析法として知られています。 今回、ED-XRFによる各元素の検出下限を算出し、さらに定量精度を評価しました。ED-XRFがどの濃度に対して元素分析を行えるのか、実例とともにご紹介します。

講師

日本電子株式会社

発表日: 2016年2月5日(金)

蛍光X線分析装置(XRF)

開催中

ICPユーザー必見!ED-XRFによる微量元素の検出下限
~スクリーニングからppmオーダー分析まで~

元素分析は鋼種判定・品質管理・有害物質規制など様々な場面で行われており、その際用いる元素分析法は、着目元素の濃度に応じて適切なものを選択する必要があります。 例えば微量分析は、高周波誘導結合プラズマ (ICP) 発光分光法などの湿式分析法がよく用いられています。
エネルギー分散型蛍光X線分析法 (ED-XRF) は、非破壊・迅速・簡便な元素分析法として知られています。 今回、ED-XRFによる各元素の検出下限を算出し、さらに定量精度を評価しました。 ED-XRFがどの濃度に対して元素分析を行えるのか、実例とともにご紹介します。

講師

日本電子株式会社 

発表日: 2018年11月16日(金)

開催中

樹脂も、液体も、定量分析にはXRF!自動厚さ補正機能を活かしたスマートFP法の分析事例

XRFは非破壊・迅速・簡便な元素分析法として知られています。しかしその落とし穴として、厚みの薄い試料を測定すると定量値にずれが生じ、特にその影響は試料が樹脂や水溶液などのソフトマテリアルである場合に起こりやすいことが知られています。
弊社のXRF: JSX-1000Sは"自動厚さ補正機能"を有しており、これにより試料厚みを気にせずにFP法で定量分析を行うことができます。今回の発表では、まずXRFによる測定を行う上で必要な試料厚み(無限厚)についてお話しした後、"自動厚さ補正機能"を活かした分析事例をご紹介します。

講師

日本電子株式会社 

発表日: 2019年6月28日(金)

核磁気共鳴装置(NMR)

開催中

リチウムイオンの直接観測!NMRによるLIB材料分析

NMRはリチウムイオンを直接観測できる数少ない分析方法の1つであり、リチウムイオン電池材料の局所構造とイオンのダイナミクスを解析できる強力なツールです。
測定手法は材料や目的によって様々で、溶液NMR、固体NMR、in-situNMR、拡散NMRと幅広いアプリケーションがあります。
本Webセミナーでは、正極、負極、電解質、各コンポーネントの最新NMR分析アプリケーションをご紹介します。

講師 矢澤 宏次

株式会社JEOL RESONANCE 技術部アプリケーショングループ

発表日: 2020年10月2日(金)

質量分析計(MS)

開催中

Battery analysis 『In-situ その場で分析するJEOLの質量分析計』

スマートフォンやパソコンなど、あらゆるところで使われているリチウムイオン電池。
高性能化はもちろん低コスト、安全性、さらには次世代電池など、昨今電池に関わる研究が盛んに行われています。本セミナーでは「リチウムイオン電池充電工程でのリアルタイム分析」、「移動接続によるTG-MSシステムでの酸化物系固体電解質分析」の2つの分析事例をご紹介します。

講師

日本電子株式会社 

発表日: 2020年7月3日(木)

展示パネル EXHIBITION PANEL

アプリケーションパネル

超高圧透過電子顕微鏡と四重極質量分析計の融合
- 構造解析から機能解析へ -

超高圧透過電子顕微鏡と四重極質量分析計の融合 - 造解析から機能解析へ -

透過電子顕微鏡(TEM)

原子分解能分析電子顕微鏡
JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2

原子分解能分析電子顕微鏡

原子分解能分析電子顕微鏡
JEM-ARM200F NEOARM

JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡

電界放出形クライオ電子顕微鏡
CRYO ARM™

電界放出形クライオ電子顕微鏡CRYO ARM(TM)

多機能電子顕微鏡
JEM-F200

多機能電子顕微鏡 JEM-F200

透過電子顕微鏡
JEM-1400Flash

透過電子顕微鏡 JEM-1400Flash

EDM (Electrostatic Dose Modulator)
JEOL-IDES Products

EDM (Electrostatic Dose Modulator)

走査電子顕微鏡 (SEM)

走査電子顕微鏡
JSM-IT700HR InTouchScope™

JSM-IT700HR InTouchScope™ 走査電子顕微鏡

電界放出形走査電子顕微鏡
JSM-IT800

JSM-IT800 電界放出形走査電子顕微鏡

電界放出形走査電子顕微鏡
JSM-IT800 Super Hybrid Lends <SHL>

JSM-IT800 電界放出形走査電子顕微鏡

卓上走査電子顕微鏡
JCM-7000 NeoScope™

卓上走査電子顕微鏡 JCM-7000 NeoScope(TM)

電子プローブマイクロアナライザ (EPMA)

電子プローブマイクロアナライザ
JXA-iHP200F / JXA-iSP100

電子プローブマイクロアナライザ JXA-iHP200F / JXA-iSP100

軟X線分光器
SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer)/SXES-ER (Soft X-Ray Emission Spectrometer Extended Range)

軟X線分光器 SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer)/SXES-ER (Soft X-Ray Emission Spectrometer Extended Range)

オージェマイクロプローブ (Auger)

フィールドエミッションオージェマイクロプローブ
JAMP-9510F

フィールドエミッションオージェマイクロプローブ JAMP-9510

イオンビーム応用装置 (FIB、IS、CP)

複合ビーム加工観察装置
JIB-4700F

複合ビーム加工観察装置 JIB-4700F

集束イオンビーム加工観察装置
JIB-4000PLUS

集束イオンビーム加工観察装置 JIB-4000PLUS

冷却クロスセクションポリッシャ™
IB-19520CCP

冷却クロスセクションポリッシャ(TM) IB-19520CCP

核磁気共鳴装置(NMR)

核磁気共鳴装置
NMR spectrometer Z

核磁気共鳴装置 NMR spectrometer Z

新世代拡散プローブ
New generation diffusion probe

新世代拡散プローブ New generation diffusion probe

質量分析計(MS)

ガスクロマトグラフ質量分析計
JMS-Q1500GC

ガスクロマトグラフ質量分析計 JMS-Q1500GC

ガスクロマトグラフ三連四重極質量分析計
JMS-TQ4000GC

ガスクロマトグラフ三連四重極質量分析計 JMS-TQ4000GC

多重周回飛行時間質量分析計
高分解能TOFMSによるLiBのIn-situ分析
~リアルタイムでの発生ガス挙動分析~

多重周回飛行時間質量分析計 高分解能TOFMSによるLiBのIn-situ分析

サービス&ソリューション

分析機器シェアリングサービスのご紹介

分析機器シェアリングサービスのご紹介

受託分析のご紹介

受託分析のご紹介

電子顕微鏡用高精度冷却水循環装置 enoqua

電子顕微鏡用高精度冷却水循環装置 enoqua

カタログ CATALOG

製品のPDFカタログは右記ページからもダウンロードいただけます。

オンラインデモのご紹介 ONLINE DEMO

装置の導入を検討中のお客様にインターネット経由で装置の紹介や操作説明を行うサービスです。
複数の方が同時にご覧いただけます。音声通話も可能ですので、質疑応答もその場で行うことができます。

メリット

・ご来社頂く必要がありません 
・出張承認が不要 
・多くの装置使用者で確認可能
・報告/日報が不要 
・デモ後、速やかに仕事に戻れる

オンラインデモ イメージ

お申込みから実施までの流れ

  • 1

    ご希望の際は、お問い合わせフォームよりお申込みください。

  • 2

    担当者より折り返しご連絡を差し上げます。

    その際、日時の調整やご要望等をお伺いします。

  • 3

    指定日時に「オンラインデモ」を開始いたします。

    当日はお電話またはPC音声マイクを通してご案内いたします。

理科学機器のサブスクリプション SUBSCRIPTION

お問い合わせ CONTACT

日本電子はオンライン上での装置デモンストレーションや受託分析を行っております。
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