電子顕微鏡関連 展示 (オンライン)
学会： 2021年6月14日(月)～6月16日(水)
オンライン： 2021年6月14日(月)～6月30日(水)
『日本顕微鏡学会 第77回学術講演会』が2021年6月14日(月)～16日(水) つくば国際会議場にて開催されます。
今年はオンライン配信を併用してのハイブリッド開催となります。
弊社は会場にてブース展示を行いますが、併せてJEOL Online EXPO電子顕微鏡関連 特設サイトを6/14～6/30の期間限定で開設いたします。ブースに展示している新製品/新技術の紹介、過去に実施したウェビナーの中から人気のあったものを選び動画を掲載します。
会場にお越しのお客様も、お越しになれないお客様も、ぜひ特設サイトにお越しください。
皆様のご参加を心よりお待ちしております。
会期終了に伴い、6月30日(水)をもって公開を終了しました
ウェビナー (オンデマンド)
透過電子顕微鏡
GRAND ARM™を超えたGRAND ARM™ "GRAND ARM™2"の紹介
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GRAND ARM™2では、新たに開発された新型対物レンズ"FHP2"による超高空間分解能と 高感度元素分析が両立され、エンクロージャーで装置を囲うことにより環境、外乱対策の強化を行っています。 また、ユーザービリティを追求した様々な新機能の追加も行っています。
これらの新要素、新機能に加えて、最新のデータや新しいアタッチメントなどの紹介も行います。
講師
橋口 裕樹
日本電子株式会社
EM事業ユニット
EMアプリケーション部
JEM-1400FlashとSiN window chipを用いた大面積観察のすすめ
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JEM-1400Flashには、超広域モンタージュ画像を自動で撮影できる「Limitless Panorama」機能が標準で搭載されており、 超広域＆高精細画像を簡単に取得することができます。さら撮影予約機能により、複数個所の撮影を自動で行うことも可能です。
また、広視野観察に最適な試料台「SiN window chip」の使用によりミリメートルサイズの視野観察が可能になりましたので、 視野カットなどのストレスなく目的個所を素早く見つけることができます。
本セミナーでは、JEM-1400FlashとSiN window chipを用いた大面積観察の特長についてご紹介します。
講師
濱元 千絵子
日本電子株式会社
EM事業ユニット
EMアプリケーション部
新型冷陰極電界放出形クライオ電子顕微鏡 "CRYO ARM™ 300 II"の紹介
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CRYO ARM™ 300のリリースから約3年半、今回新たに開発された"CRYO ARM™ 300 II"は、電子ビーム制御による高速撮像、システム改良による操作性の向上、ハードウェアの安定性向上により、これまでより高いスループット・安定性・ユーザビリティーをユーザーに提供します。
本ウェビナーではこれらの新要素、新機能に加えて、最新のデータ等の紹介を行います。
講師
細木 直樹
日本電子株式会社
EM事業ユニット
EMアプリケーション部
非曝露環境下でのリチウムイオン電池のTEM試料作製
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リチウムイオン電池は大気成分と反応しやすいため、大気非曝露下での試料搬送及び試料作製が必要です。今回、全固体リチウムイオン電池のシリコン負極材を試料として、集束イオンビーム装置 (FIB) を用いた非曝露TEM試料作製プロセスをご紹介します。
クロスセクションポリッシャ™ (CP) から直接FIB-SEMへ試料搬送することで平滑なCP断面から試料作製が行えるため、より簡便に目的の部位から高品質なTEM試料作製が可能となります。
講師
門井 美純
日本電子株式会社
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
The timeline of IDES (英語の講演)
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We will discuss the history of IDES, Inc. and its capabilities in ultrafast and dynamic transmission electron microscopy.
IDES began as a small company based on the technology from the DTEM project at Lawrence Livermore National Laboratory and is now a subsidiary of JEOL Ltd. IDES products span time scales from milliseconds to picoseconds, and today we will focus on the nanosecond to picosecond range provided by pulsed lasers.
講師
Dr. Bryan Reed
Chief Technology Officer
INTEGRATED DYNAMIC ELECTRON SOLUTIONS, INC.
走査電子顕微鏡
SEM観察の基礎と応用 ～試料情報を引き出す前処理と観察条件設定～
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最近の走査電子顕微鏡（SEM）はフォーカス・スティグマなど、自動調整機能の発達により、誰でも簡単に像取得ができるようになりました。しかし、試料からの情報を的確に捉えるためには、観察目的に合った試料前処理及び観察条件に調整する必要があります。
本セミナーでは、SEMをさらに活用するための試料に応じた前処理から観察条件について紹介します。
講師
石野 真友
日本電子株式会社
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
集束イオンビーム加工観察装置
電子機器部品の構造・欠陥解析 ～SIM像による三次元観察の応用事例～
FIB_1
シングルビームFIBのJIB-4000PLUSはSIM像による三次元観察が行えます。
SIM像のチャンネリングコントラストが鮮明に観察できる特徴から、結晶性試料などの三次元解析に有効な測定法です。IRカットフィルター上の欠陥で三次元観察を実施し、欠陥の発生原因を解析しました。また、セラミックコンデンサーの三次元観察を行い、内部にあるボイドを可視化するとともにボイドの分布とその割合を解析したので、その詳細を報告します。
本セミナーは、SEMユーザーズミーティング2019で発表した内容の再演になります。
講師
山田 晶子
日本電子株式会社
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
Synergy-ED
MICROED: AN UPDATE FROM THE RIGAKU/JEOL COLLABORATION
(英語の講演)
WEBINAR-1
We would like to invite you to join us for a special webinar on MicroED.
During this event we will show you the latest progress from our collaboration with JEOL.
講師
Mr．Fraser White
Rigaku Corporation
パネル
ご登録後にご覧いただけます。
カタログ
ご登録後にご覧いただけます。
オンラインデモのご紹介
装置の導入を検討中のお客様にインターネット経由で装置の紹介や操作説明を行うサービスです。
複数の方が同時にご覧いただけます。音声通話も可能ですので、質疑応答もその場で行うことができます。
メリット
ご来社頂く必要がありません
出張承認が不要
多くの装置使用者で確認可能
報告／日報が不要
デモ後、速やかに仕事に戻れる
お申込みから実施までの流れ
ご希望の際は、お問い合わせフォームよりお申込みください。
担当者より折り返しご連絡を差し上げます。
その際、日時の調整やご要望等をお伺いします。指定日時に「オンラインデモ」を開始いたします。
当日はお電話またはPC音声マイクを通してご案内いたします。
会期終了に伴い、6月30日(水)をもってお申し込みを終了しました
お問い合わせ
日本電子株式会社
日本顕微鏡学会 第77回学術講演会 (オンライン) 事務局
E-mail： jeol_event[at]jeol.co.jp
※ [at]は＠に、ご変更ください。