日本電子 - オックスフォード・インストゥルメンツ FIB-SEM / サンプリング技術「ジョイントウェビナー」2021 (オンライン)

日本電子 - オックスフォード・インストゥルメンツ FIB-SEM / サンプリング技術「ジョイントウェビナー」2021 (オンライン)

開催日: 2021年8月6日(金)

動画公開期間: 2021年8月10日(火)~9月10日(金)

※ 会期終了に伴い、9月10日(金)をもって公開を終了しました

共催: 日本電子株式会社、オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

ウェビナー WEBINAR

ウェビナー1

2021年8月6日 (金) 16:00~16:30

非曝露環境下でのリチウムイオン電池のTEM試料作製

リチウムイオン電池は大気成分と反応しやすいため、大気非曝露下での試料搬送及び試料作製が必要です。今回、全固体リチウムイオン電池のシリコン負極材を試料として、集束イオンビーム装置 (FIB) を用いた非曝露TEM試料作製プロセスをご紹介します。
クロスセクションポリッシャ™ (CP) から直接FIB-SEMへ試料搬送することで平滑なCP断面から試料作製が行え、またFIB試料室にOxford Instruments社製のオムニプローブを取り付けることにより大気曝露することなく目的の部位から高品質なTEM試料作製が可能となります。

講師

講師

門井 美純

日本電子株式会社
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
FIBグループ

ウェビナー 2

2021年8月6日 (金) 16:30~17:00

高性能ナノマニピュレーターOmniProbeの紹介と応用事例

Oxford InstrumentsのナノマニピュレーターOmniProbeシリーズをご紹介いたします。OmniProbeは優れたリニアリティや安定性を持ち、TEM試料のピックアップやグリッドへの取り付けをスムーズかつ正確に行うことができる他、FIBチャンバー内でのチップ交換が可能で、装置のダウンタイムを最小限に抑えることができます。またEBICやEBACなどの電気テストにも対応します。
EDS・EBSDと組み合わせ、チップ上でのTEM試料のEDS分析 (膜厚測定) やEBSD分析などの応用事例もご紹介いたします。

講師

講師

五十嵐 誠

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
分析機器事業部

オンラインデモのご紹介 ONLINE DEMO

装置の導入を検討中のお客様にインターネット経由で装置の紹介や操作説明を行うサービスです。
複数の方が同時にご覧いただけます。音声通話も可能ですので、質疑応答もその場で行うことができます。

メリット

・ご来社頂く必要がありません 
・出張承認が不要 
・多くの装置使用者で確認可能
・報告/日報が不要 
・デモ後、速やかに仕事に戻れる

オンラインデモ イメージ

お申込みから実施までの流れ

  • 1

    ご希望の際は、お問い合わせフォームよりお申込みください。

  • 2

    担当者より折り返しご連絡を差し上げます。

    その際、日時の調整やご要望等をお伺いします。

  • 3

    指定日時に「オンラインデモ」を開始いたします。

    当日はお電話またはPC音声マイクを通してご案内いたします。

※ 会期終了に伴い、9月10日(金)をもって
  お申し込みを終了しました

関連リンク LINK

日本電子 - オックスフォード・インストゥルメンツ
SEM / EDS / WDS「ジョイントウェビナー」2021 (オンライン)
開催日: 2021年7月21日 (水) 16:00~17:00

お問い合わせ CONTACT

日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
※ [at]は@に、ご変更ください。