第14回 TEMユーザーズミーティング (オンライン)

第14回 TEMユーザーズミーティング (オンライン)

2022年1月14日 (金) ~ 1月31日 (月)

本年も、TEMユーザーズミーティングをオンラインで開催します。

例年と同様、外部講演の先生方の発表を含め、さまざまな分野を網羅した新技術情報や実践的技術情報をお届けします。
オンラインユーザーズミーティングは弊社装置をお使いの方に限らず、他社装置をお使いの方、装置にご興味のある方、どなたでも参加できる無料のセミナーです。

WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

※ 会期終了に伴い、1月31日 (月) をもって公開を終了しました

ウェビナー WEBINAR

セミナー資料 映像録画 / 録音についてのお願い

  • セミナー資料について
    恐れ入りますが、資料の再配布・複製をご遠慮いただいております。
  • セミナー映像の録画、録音について
    恐れ入りますが、セミナー映像の録画・録音・撮影などご遠慮いただいております。

皆様のご理解とご協力の程、何卒よろしくお願い申し上げます。

特別講演_1

OBF STEM法の開発による超低ドーズ原子分解能イメージング

近年、電子線耐性の低い試料のS/TEM観察が盛んになっています。しかし、電子線ダメージを避けるには照射電子線量を低減した低ドーズ条件が必要になる一方で、同時に得られる画像の信号ノイズ比が低下するため、こうした試料の観察は困難でした。
本講演では、このような電子線に弱い試料の高分解能観察を可能にするため開発されたOBF STEM法について、基本的なコンセプトからアプリケーションまでをご紹介します。

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講師

大江 耕介 様

東京大学
大学院
工学系研究科
総合研究機構

特別講演_2

TEMによる超広域画像撮影のすすめ

多細胞生物の樹脂切片をTEM観察していると、自分は今どの組織・細胞を見ているのだろうと、大海原で迷子になることがあります。また論文の査読などで、TEMでも何百枚もの統計処理を要求されることがあります。そんな悩みを一気に解決するのが、高解像のまま超広域を一気に撮影・結合する手法です。
本講演では、私がこれまで関わってきた超広域画像の取得法やオルガネラを自動識別・分類する手法について、ユーザー目線でご紹介します。

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講師

永田 典子 様

日本女子大学
理学部 物質生物科学科

TEMUM_1

JEM-F200を用いた観察技術とアプリケーションデータ
~ 基本性能からその場観察・歪解析・結晶方位解析・磁区構造観察などの紹介 ~

多目的電子顕微鏡JEM-F200を使用した基礎データから応用データの紹介を行います。その場観察では静的観察では見ることのできないサンプルのダイナミックな変化をご覧いただきたいと思います。
汎用装置としてお使いのTEMにさらなる機能を追加して結晶方位解析、磁区構造観察など+αの結果を期待できる種々の観察データについて紹介します。

講師3

講師

福永 啓一

日本電子株式会社
EM事業ユニット
EMアプリケーション部

TEMUM_2

CRYO ARM™ 300 II を用いた単粒子解析法のワークフローの紹介
~ スクリーニングから高速データ取得まで ~

次世代のクライオ電子顕微鏡である"CRYO ARM™ 300 II“による効率的な単粒子解析法のデータ取得の方法をご紹介します。
本装置の特徴として、電子ビーム制御による高速画像取得、新しいシステムによる柔軟な操作性、新型電子銃やエネルギーフィルターの高い安定性が挙げられます。これらの特徴を生かすことで、複数のクライオ試料を用いてスクリーニングからデータ取得までの一連の操作を本装置一台で効率的に行う事が出来ます。

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講師

細木 直樹

日本電子株式会社
EM事業ユニット
EMアプリケーション部

TEMUM_3

高速電子線制御を用いた、新たな観察および分析手法

近年、zeoliteやMOFといった電子線に弱い試料の観察や分析の要求が増えています。これらの観察は数pA以下の電流量で観察しないと簡単に壊れてしまいます。新たな観察手法として、low doseでもハイコントラストで観察できるOBF法が開発されましたが、本手法は観察のみにしか適用できず、EDSやEELSといった分析はできません。本発表では、高速電子線制御を用いて電子線ダメージを減らした観察だけでなく分析手法を紹介します。

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講師

橋口 裕樹

日本電子株式会社
EM事業ユニット
EMアプリケーション部

その他-1

装置導入方法に関するご提案と最新情報

限られた時間で最大の成果が求められる時代、成果を出すための装置導入を「所有」から「使用」へと発想を転換することで、【装置】を買うのではなく、【時間】を買いませんか?

01

講師

浅冨 華恵 / 増田 裕洪

日本電子株式会社
科学・計測機器営業本部
営業企画室

カタログ CATALOG

※ 会期終了に伴い、1月31日 (月) をもって公開を終了しました

JEOL 日本電子

  • JEM-1400Flash 電子顕微鏡

    JEM-1400Flash 電子顕微鏡

  • JEM-1400 Flash化バージョンアップ

    JEM-1400
    Flash化バージョンアップ

  • CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 電界放出形クライオ電子顕微鏡

    CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300)
    電界放出形クライオ電子顕微鏡

  • JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 原子分解能分析電子顕微鏡

    JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2
    原子分解能分析電子顕微鏡 (カタログ)

  • JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 <br />原子分解能分析電子顕微鏡

    JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2
    原子分解能分析電子顕微鏡 (フライヤー)

  • OBF System

    OBF System (英文)

IDES社

  • EDS True Area Scan

    EDS True Area Scan (英文)

  • JEM-2100 Time-resolved TEM

    JEM-2100 Time-resolved TEM (英文)

  • Luminary Micro

    Luminary Micro (英文)

  • Programmable STEM with EDM Synchrony

    Programmable STEM with EDM Synchrony (英文)

  • Electrostatic Dose Modulator

    Electrostatic Dose Modulator (英文)

  • Relativity

    Relativity

  • RELATIVITY

    RELATIVITY (英文)

アプリケーションポスター APPLICATION POSTER

※ 会期終了に伴い、1月31日 (月) をもって公開を終了しました

サービス

シェアリングサービスのご紹介

シェアリングサービスのご紹介

最先端理科学機器のための設置室環境技術

最先端理科学機器のための設置室環境技術

キャンペーン CAMPAIGN

※ 会期終了に伴い、1月31日 (月) をもって公開を終了しました

  • TEMユーザーズミーティング 消耗品ご優待販売キャンペーン

    TEMユーザーズミーティング
    消耗品ご優待販売キャンペーン

お問い合わせ CONTACT

日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
※ [at]は@に、ご変更ください。