JEM-2100Plus 透過電子顕微鏡
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特長 STRONG POINT

JEM-2100Plusは、定評のあるJEM-2100の光学系に最新の制御系をプラスし、操作性を大幅に向上した多目的の電子顕微鏡です。
JEM-2100Plusの優れた基本性能と簡単かつ分かりやすい操作性は、材料研究から医学・生物研究の幅広い分野で優れたソリューションを提供します。
操作性の向上
64 ビット版Windows® 上で動作する最新の操作ソフトウェア“TEM Center” により、初心者にも分かりやすい操作を実現。
脚注:Windows は、米国 Microsoft Corporation の、米国およびその他の国における登録商標または商標です。
進化したインテグレーション
TEM Center と高画素カメラ(オプション)や走査像(BF/DF 像)観察機能(オプション)とのインテグレー ションにより、TEM Center のGUI から直観的かつ簡単に操作可能。
多彩なユーザーアシスト機能
多彩なユーザーアシスト機能(オートフォーカス、オートコントラスト/ ブライトネス、オート露光、オー トモンタージュ、ドリフト補正機能、Stage Navigation 機能など)装備。
画像閲覧・編集ソフト
Viewer ソフトウェアにて、オフライン画像閲覧・編集可能。
カタログ
仕様/オプション SPEC / OPTION
バージョン | 超高分解能構成※1 (UHR) |
高分解能構成※1 (HR) |
試料高傾斜構成※1 (HT) |
クライオ構成※1 (CR) |
ハイコントラスト構成※1 (HC) |
分解能 | |||||
粒子像 | 0.194 nm | 0.23 nm | 0.25 nm | 0.27 nm | 0.31 nm |
格子像 | 0.14 nm | 0.14 nm | 0.14 nm | 0.14 nm | 0.14 nm |
※1:機種発注時にいずれかの構成を選択してください。