ライフサイエンス向け走査電子顕微鏡 (SEM)

走査電子顕微鏡 (Scanning Electron Microscope: SEM) は主に試料表面の微細構造の形態観察で使用します。生物試料を観察する場合、前処理として、真空雰囲気内での形状保持と合わせて、目的観察場所の露出が必要です。また、SEMでも透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope: TEM) の様に切片試料を作製することで内部構造観察ができます。SEM での切片試料測定は、TEMでは困難な広領域観察を可能にします。

製品一覧

JSM-IT810 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡

JSM-IT210 走査電子顕微鏡

JSM-IT510 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡

JCM-7000 NeoScope™ 卓上走査電子顕微鏡

走査電子顕微鏡 (SEM) の解析手法

走査電子顕微鏡は、多様な解析手法により幅広い研究ニーズに対応します。研究目的や試料の特性に応じて、最適な解析アプローチを選択できます。

試料表面の微細構造観察

表面の微細構造観察は主に二次電子信号で行います。二次電子は表面の微細な凹凸を表示できます。

(左) 資料：ナヌカザメ水晶体、入射電圧：3 kV (右) 試料：乳酸菌、入射電圧：3 kV

広領域＆高精細な内部構造の観察

シンチレーター反射電子検出器 (SBED) は従来の半導体反射電子検出器よりも応答性と検出感度が向上しているため、TEM よりも広い領域を高精細かつ高速で取得できます。

試料：マウス肺、画素数：30,720 × 23,040 pixels、検出器：SBED、入射電圧：5 kV

Array Tomography 法

Array Tomography 法はミクロトームで切片を連続的に作製し、Si基板やウルトラフラットカーボン (UFC) 等に並べた連続切片試料を撮影して3D構築する技法です。本手法は連続切片ソフトArray Tomography Supporterのみで可能なため、導入コストを抑えることができます。また、帯電対策が容易で、連続切片化した試料が保存できること、光・電子相関顕微鏡法 (CLEM) も併せて実施できます。

試料：マウス小腸の胚細胞
入射電圧：7 kV
照射電流：5 nA
画素数：7,680 × 5,760 pixels
画素サイズ：11.1 nm/pixel
スキャン速度：0.34 µsec/pixel
取得時間: 3 時間19分
連続切片自動撮影ソフトウェア：Array Tomography Supporter (JEOL Ltd.)

Serial Block Face 法

SBF (Serial Block Face) 法はSEM試料室内で切削とSEM撮像を自動かつ連続で行い、三次元構築する手法です。KatanaユニットをSEM試料ステージへ取り付けるだけで使用できるため、通常SEMと併用して生物試料の三次元構築を行いたい方や、ミクロトーム等の切削ユニットを持っていない方に最適です。

試料：マウス腎臓、FOV： 15,3 μm × 9,1 μm　画素: 8 × 6 k, 2.22 nm/pixel、厚み: 1.47 μm (42 slices @35 nm)、取得時間: 2 時間34 分、ソフトウェア: SEM Supporter SBF、試料ご提供：Bernard Davenport, Alex Mironov, Rachel Lennon, University of Manchester, UK

3D構築像

左：Full rendering: STACK N VIZ、右：Crop rendering: STACK N VIZ

アプリケーション

走査電子顕微鏡は、基礎研究から産業応用まで幅広い分野で活用されています。各分野における具体的なアプリケーション事例をご紹介します。

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導入事例 / インタビュー

生物学の研究における新発見を目指して　より重要なデータを探索する生物学電子顕微鏡法
走査電子顕微鏡/透過電子顕微鏡

ロンドン大学キングスカレッジ
Roland Fleck 教授

細胞・分子の構造を理解することは、生物医学研究において極めて重要である。イギリス: King's College London, CUI(Centre for Ultrastructural Imaging)のディレクターであるRoland Fleck教授は日本電子とのパートナーシップのもと、JSM-7800FPRIME走査電子顕微鏡(SEM)、JEM-F200透過電子顕微鏡(TEM)などを使い生物などの構造の高分解能観察に全力を傾けてきた。CUIの中に日本電子との共同で設けられたJCAT (JEOL Centre for Advanced Technology)では、通常の室温での電子顕微鏡法及び、極低温でのクライオ電子顕微鏡法を駆使して研究が行われている。