JSX-3400RII エネルギー分散形蛍光X線分析装置** この製品は販売を終了しています **

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特長 STRONG POINT

JSX-3400RII エネルギー分散形蛍光X線分析装置
※キャンペーン実施中※

高感度、高分解能Si(Li)半導体検出器を搭載した蛍光X線分析装置です。

  • 液体窒素タイプ検出器を採用した、コストパフォーマンスに優れた汎用機です。
  • 重元素にも感度が高いSi(Li)検出器、従来機よりパスの短い光学系配置、特殊フィルタの採用により、低濃度の成分を短時間で測定できます。
  • 分解能が高く、Mg,Al,Siなどの軽元素も明確に分離します。
  • FP法(ファンダメンタル・パラメータ法)を用いて標準物質なしで簡単に定量分析できます。
  • 1mmφのコリメータを標準装備しているので、微小異物も確認しながら分析できます。
  • 標準でサムピークの表示機能を有し、定性分析が容易です。オプションのサムピーク除去ソフトを用いると定量分析の精度が一層向上します。
  • 薄膜FP法により標準試料なしに多層メッキや合金メッキなどのメッキ厚簡易測定が可能です。

仕様/オプション SPEC / OPTION

検出元素範囲 Na ∼ U
X線発生装置 5∼50kV、1mA、50W
ターゲット Rh
フィルタ 4種自動交換(オープン含め)
コリメータ 1mmφ/3mmφ/7mmφ
検出器 Si(Li)半導体検出器
液体窒素 3L 消費量1L/日
試料室サイズ 直径 300mm × 150mm(H)
試料室雰囲気 大気(真空:オプション)
パソコン OS:Windows®7 液晶ディスプレイ カラープリンター
ソフトウェア RoHS分析:プラスチック5元素分析、金属材料5元素分析、分析結果報告書作成
一般分析:バルクFP法 薄膜FP法 検量線作成
保守
ソフトウェア
装置校正ソフト JSXスターター
付属試料 エネルギー校正試料 RoHS元素含有量チェック試料 強度校正試料

脚注:Windows は、米国 Microsoft Corporation の、米国、日本およびその他の国における登録商標または商標です。

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