Magnetic AFM Probes
AFMプローブ先端からカンチレバー基板までが単結晶シリコンで一体形成されており、品質の高い形状、先端曲率を有しています。先端曲率は60nm以下で良好な分解能と再現性を有しています。Tip先端には200nm以上に亘って対称性の良いプローブ部分が形成されています。
カンチレバーのTip側表面に磁性体、そして反射面側にアルミニウムをコーティングしています。
用途：磁気力顕微鏡（MFM）
本製品の基板背面にはプローブホルダーへの取付用ガイド溝が構成されています。（-Gのみ）
Multi75M-G
| Multi75M-G | 仕様値 | 許容誤差範囲 |
|---|---|---|
| 共振周波数 | 75 kHz | ± 15 kHz |
| ばね定数 | 3 N/m | 1 N/m to 7 N/m |
| 長さ | 225 µm | ± 10 µm |
| 幅 | 28 µm | ± 5 µm |
| 厚さ | 3 µm | ± 1 µm |
| Tip 高さ | 17 µm | ± 2 µm |
| Tip 構成位置 | 15 µm | ± 5 µm |
| Tip 曲率 | < 60 nm | |
| Tip 面コーティング | 磁性体コーティング | |
| 反射面コーティング | アルミニウムコーティング | |
| 開き角（半値） | 20°-25° カンチレバー先端側 | |
| 25°-30° カンチレバー側面 | ||
| 10° 先端側 | ||
