お薦め消耗品

多岐にわたり広い分野で使用される JEOL製品をはじめ、そのサプライ品・消耗品に対する情報提供が多くのユーザーより望まれています。
本ページ以下では、お客様のあらゆるニーズに応える新情報を ご案内いたします。

新着

• 
  走査電子顕微鏡　試料作製用　汎用断面カッター
• 
  クロスセクションポリッシャ　前処理用アシストアイテム

透過電子顕微鏡（TEM）／走査電子顕微鏡（SEM）共通

• 
  日本電子製ガラスナイフ

透過電子顕微鏡(TEM)

• 
  シムナイフ
• 
  ダイヤモンドナイフ
• 
  日本電子製電顕用プラスチック支持膜

走査電子顕微鏡(SEM)

• 
  ナノパーコレータ（Sem Pore）
• 
  走査電子顕微鏡用特殊試料ホルダ
• 
  ウルトラフラットカーボン
• 
  SEMメンテナンス用(Sn)試料
• 
  FESEM用トメビスセット
• 
  試料交換棒用カバー
• 
  試料ホルダ
• 
  タングステン・フィラメント交換ツール
• 
  走査電子顕微鏡　試料作製用　汎用断面カッター
• 
  クロスセクションポリッシャ　前処理用アシストアイテム

走査形プローブ顕微鏡(SPM)

• 
  BudgetSensorsカンチレバー

核磁気共鳴装置(NMR)

• 
  Wilmad-LabGlass Co.社試料管
• 
  NORELL, Inc.社製NMR試料管
• 
  NMR測定用溶媒
• 
  NMR消耗品カタログ

電子スピン共鳴装置(ESR)

• 
  ESR消耗品カタログ

共通

• 
  クリーンルーム用手袋
• 
  ラテックス手袋（Non Slip Latex Glove Powder Free）