転写プレート Poropare™

Poropare™（浜松ホトニクス社製）は
イオン化支援層を成膜したガラスビーズ多孔体です。
切片作成・マトリックス塗布を必要としない
質量分析イメージング (MSI) を実現します。

※ JMS-S3000 以外でのご利用は、日本電子からの
サポート対象外になりますのでご了承ください。

※転写プレートPoropare™のページが開きます。

マトリックスを使った MSI の前処理

Poropare™ の特長

SpiralTOF™ -plus2.0 と組み合わせた測定事例

• 専用アダプタで Poropare™ を JMS-S3000 に導入可能です。

• 高質量分解能かつ高質量精度を低分子領域においても達成できます。

• 飛行距離が 17 m と長く、プレート表面の凹凸の影響を低減し、高質量精度で分析できます。

• 扇形電場の使用で Post source decay ion を排除し、微量な低分子化合物も観測できます。

1. 準備時間の大幅な短縮

イチゴをカットし、Poropare™ に成分を移すことで準備完了。
高質量分解能でのマスイメージング測定が可能です。

2. 切片作成が難しい試料の表面の測定

PET フィルムを紫外線照射し、フィルム表面のオリゴマーをPoropare™ に写すことで準備完了。光酸化劣化により表面に生じた両末端基にカルボン酸をもつシリーズの増加を確認できました。

発注情報

測定には以下の部品も必要になります。お持ちでない場合は一緒にお買い求めください。

転写プレート Poropare™
（有効エリア 長辺47mm x 短辺11mm）

※導電性アルミ箔テープは、転写プレートを専用アダプターに固定する際に必要になります。

転写プレート専用アダプター

※転写プレートを転写プレート専用アダプター以外に貼り付けて使用すると、分析装置本体が故障するおそれがあります。

※浜松ホトニクス株式会社様のページが開きます

• 日本電子は、本製品の使用によって得られる測定結果の完全性を保証いたしません。

• 日本電子は、本製品の使用または本製品に関連して生じたお客様および第三者の損失、損害等または第三者からのお客様に対する異議、請求等に対していかなる責任も負いません。

• 本製品のJMS-S3000以外での使用は、日本電子のサポート対象外となります。他社製品でのご使用に関しては、装置販売元・装置製造元にお問い合わせください。

• 本製品の詳細については、製造元の浜松ホトニクス株式会社のHPをご覧ください。

• 本製品の内容・情報等は、予告なく変更されることがあります。