SEM・EDS基礎編
弊社では対象装置の保守契約のお客様向けに装置の性能をフルに引き出していただけるよう、Web講習会を開催しております。
講習会へのご参加は事前のお申し込みが必要です。
目的 | SEM入門:帯電対策~導電性の無い試料の観察方法~
EDS入門:正しい分析をするために |
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開催日 | 2023年6月16日 (金) 終了しました
2023年8月25日 (金) 終了しました 2023年12月8日 (金)
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受講料 | 無料 (有償でのお申し込みは不可) |
対象 | タングステンSEM保守契約のお客様 |
前提コース | 特にありません |
使用装置 | JSM-ITシリーズ (タングステンSEM) |
定員 | 200名程 |
コース概要 |
SEM入門 走査電子顕微鏡の観察では導電性のある試料での観察が基本です。しかしながらSEMで観察する試料では導電性の無い試料も多いため、「帯電」による像異常に悩まされている方が多いのではないでしょうか? 本セミナーでは、様々な帯電対策を例を挙げながらご紹介いたします。 EDS入門 正しい分析をするためには方法はもちろん、データの確認方法や分析位置なども重要です。今回のセミナでは主に定性の確認方法と試料の分析位置、試料の凹凸によるデータの影響についてご紹介いたします。 |
質疑応答 | SEM、EDS各セミナー終了後にそれぞれチャット形式で実施いたします。 |
お問い合わせ先
科学・計測機器営業本部 ソリューション推進室
〒190-0012 東京都立川市曙町2-8-3 新鈴春ビル