リザーバー/FI法による質量較正

FD (Field Desorption) /FI (Field Ionization) 法は、高電界中における試料から固体表面への電子のトンネル効果により試料をイオン化する手法です。試料をエミッター上に塗布し、エミッターに電流を流し測定を行うのが FD 法であり、気化した試料をエミッター上に導入してイオン化を行うのが FI 法です。FI 法はフラグメンテーションが起こりにくいソフトなイオン化法として、EI (Electron Ionization) 法では分子イオンが観測されにくい試料に対して用いられています。EI 法における質量較正では、パーフルオロケロセン (PFK) やパーフルオロトリブチルアミン (PFTBA) といった、多数のフラグメントイオンが観測される試料が通常用いられます。しかしながら FI 法では PFK はイオン化されず、また PFTBA も EI 法に比べると観測されるイオン数は少なく、それ単独では質量較正に用いることは出来ません。そのため FD/FI イオン源にて質量較正を行う場合は、FD 法にてポリエチレングリコール (PEG) 等を測定し行ないます。しかし FD 法では低沸点化合物の測定が難しく、そのため低質量域での質量較正は困難です。今回標準試料導入部 (リザーバー) に揮発性の高い有機化合物を数種類導入し混在させ、それら混合物をFI法にて測定を試み、リザーバー/FI 法による簡便な質量較正が可能かどうか検証しましたので報告します。