はじめに
部品に耐食性・装飾性・機能性を持たせるため、めっきなどの表面処理は広く行われています。これらの成膜の厚さは製品の特性や品質、生産コストにもかかわるので管理が重要であり、様々な測定・分析・評価が行われています。
蛍光Ｘ線分析装置は、非破壊で標準試料なしに最大5層まで膜厚測定が可能です。
各種標準試料の測定例
Auメッキ
測定条件
- 管電圧：50 kV
- コリメータ径：0.9 mmφ
- 雰囲気：大気
- 測定時間：60秒
スペクトル
分析結果
| 分析結果（μm） |
認証値（μm） |
| 2.06 |
1.99 |
Niメッキ
測定条件
- 管電圧：50 kV
- コリメータ径：0.9 mmφ
- 雰囲気：大気
- 測定時間：60秒
スペクトル
分析結果
| 分析結果（μm） |
認証値（μm） |
| 1.10 |
0.99 |
Znメッキ
測定条件
- 管電圧：50 kV
- コリメータ径：0.9 mmφ
- 雰囲気：大気
- 測定時間：60秒
スペクトル
分析結果
| 分析結果（μm） |
認証値（μm） |
| 2.81 |
2.61 |
Agメッキ
測定条件
- 管電圧：50 kV
- コリメータ径：0.9 mmφ
- 雰囲気：大気
- 測定時間：60秒
スペクトル
分析結果
| 分析結果（μm） |
認証値（μm） |
| 8.89 |
8.97 |
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