アプリケーションノート

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日本電子株式会社は、世界トップレベルの理科学機器をお届けするハイエンド装置メーカーとして顧客の皆様や市場に、最適かつ迅速なトータルソリューションをご提供するため、アプリケーションおよび技術情報も豊富に取り揃えております。

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理科学・計測機器透過電子顕微鏡
- 透過電子顕微鏡 (TEM)
理科学・計測機器走査電子顕微鏡
- 走査電子顕微鏡 (SEM)
理科学・計測機器イオンビーム応用装置
- 薄膜・断面試料作製装置 (IS、CP)
- 集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
理科学・計測機器微小領域分析・表面分析装置
理科学・計測機器磁気共鳴装置
- 核磁気共鳴装置 (NMR)
- 電子スピン共鳴装置 (ESR)
理科学・計測機器計測機器
- その他装置
  (全自動アミノ酸分析機、X線CT微細構造解析システム、
  顕微ラマン分光装置、ポータブルGC)
理科学・計測機器 X線分析装置
- 蛍光X線分析装置 (卓上)
理科学・計測機器質量分析計
- マルチイオン化-未知物質解析システム
  JMS-T2000GC MultiAnalyzer
- 質量分析計 (MALDI-TOFMS、GC-MS、LC-MS)
産業機器半導体製造装置
- 電子ビーム描画装置
産業機器成膜関連機器・材料生成機器
- 成膜関連機器 (電子銃・プラズマ源・他)
- 材料生成機器 (電子ビーム溶解・ナノ粒子合成)
医用機器自動分析装置