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• 理科学・計測機器 透過電子顕微鏡
  • 透過電子顕微鏡 (TEM)
• 理科学・計測機器 走査電子顕微鏡
  • 走査電子顕微鏡 (SEM)
• 理科学・計測機器 イオンビーム応用装置
  • 薄膜・断面試料作製装置 (IS、CP)
  • 集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
• 理科学・計測機器 微小領域分析・表面分析装置
  • 電子プローブマイクロアナライザ (EPMA)
  • オージェマイクロプローブ (Auger)
  • 光電子分光装置 (XPS、ESCA)
• 理科学・計測機器 磁気共鳴装置
  • 核磁気共鳴装置 (NMR)
  • 電子スピン共鳴装置 (ESR)
• 理科学・計測機器 計測機器
  • その他装置
    (全自動アミノ酸分析機、X線CT微細構造解析システム、
    顕微ラマン分光装置、ポータブルGC)
• 理科学・計測機器 X線分析装置
  • 蛍光X線分析装置 (卓上)
• 理科学・計測機器 質量分析計
  • マルチイオン化-未知物質解析システム
    JMS-T2000GC MultiAnalyzer
  • 質量分析計 (MALDI-TOFMS、GC-MS、LC-MS)
• 産業機器 半導体製造装置
  • 電子ビーム描画装置
• 産業機器 成膜関連機器・材料生成機器
  • 成膜関連機器 (電子銃・プラズマ源・他)
  • 材料生成機器 (電子ビーム溶解・ナノ粒子合成)
• 医用機器 自動分析装置
  • 生化学自動分析装置
  • 臨床検査情報処理システム
  • 検体ラックハンドラー