JMS-S3000 SpiralTOF™シリーズ イメージングアプリケーションノートブック
2022年11月版
2022年11月版
JEOL製超高分解能MALDI-TOFMS JMS-S3000 SpiralTOF™シリーズで測定されたデータに基づくアプリケーションノート・日本電子news記事の中から、イメージング質量分析に関するものをまとめた冊子 (アプリケーションノートブック) です。
続きはPDFファイルをご覧ください。
目次
ハードウェア・ソフトウェア紹介 P1～
らせん状のイオン軌道を利用したMALDI-TOF/TOFの開発
(佐藤 貴弥, 日本電子news 42, 27 – 30, 2010)JMS-S3000 "SpiralTOF™"を用いた高質量分解能マスイメージングと統計手法によるデータ解析 (MSTips No. 370)
JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus" におけるイメージング質量分析能力の向上 (MS Tips 304)
JMS-S3000 “SpiralTOF™” を用いたMALDI-Imaging測定におけるm/zの安定性 (MS Tips 193)
ライフサイエンス・生体分子 P11〜
高質量分解能MALDI-TOFMSによる薬剤のイメージング質量分析 (MS Tips 212)
JMS-S3000 "SpiralTOF™" とmsMicroImager™による高質量分解能マスイメージ解析 (MS Tips 211)
イメージング質量分析法と走査型電子顕微鏡による指紋分析 (MS Tips 208)
JMS-S3000 "SpiralTOF™" Negativeモードを用いたマウス脳組織切片上の脂質のマスイメージング (MS Tips 196)
ポリマー・材料 P27〜
イメージング質量分析法と走査電子顕微鏡を用いたポリエチレンテレフタレートフィルムの紫外線照射による劣化解析 (HS05)
JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus"を用いた紫外線照射によるポリエチレンテレフタレートの劣化のイメージング質量分析 (MS Tips 307)
JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus"を用いた合成高分子のイメージング質量分析
～ケンドリックマスディフェクト法と組み合わせて～ (MS Tips 306)JMS-S3000 "SpiralTOF™-plus"を用いたイメージング質量分析における合成高分子の可視化方法 (MS Tips 305)
JMS-S3000 "SpiralTOF™" を用いた導電部・非導電部混在基板上のイメージング質量分析 (MS Tips 288)
JMS-S3000 "SpiralTOF™"を用いたアクリル板上の有機化合物分析 (MS Tips 251)
Ag SALDIを用いたイメージング質量分析とXPSによる分析深さの測定 (HS004)
紙表面のボールペンインクの分析
～JMS-S3000によるマスイメージングとSEM/EDSによる元素分析～ (MS Tips 204)JMS-S3000 "SpiralTOF™" による有機EL材料測定例
～既存の表面分析手法との比較～ (MS Tips 201)JMS-S3000 "SpiralTOF™" を用いたレーザー脱離イオン化法による有機薄膜分析
(佐藤貴弥, 日本電子news, 46, 53 – 58, 2014)
