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食品中の異物の蛍光X線分析

取り出すことなくそのまま分析

はじめに

パン中に混入した小石およびソーセージ中のステンレス疑似異物試料を作成し異物をパンやソーセージから取り出すことなくそのまま蛍光X線分析法で測定しました。異物と異物周辺の測定スペクトルを比較することにより、異物を明確に判定でき、食品中の異物解析には非常に効果的であることが確認できました。

パン中に混入させた疑似異物(小石)

JEOL XRF 異物分析

測定条件

  • ターゲット:Rh
  • 管電圧:50kV
  • コリメータ:1mmΦ
  • 雰囲気:真空
  • 測定時間:120秒

ソーセージ中に埋め込んだ疑似異物(SUS)

測定条件

雰囲気:大気

SJEOL XRF 異物分析
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