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製品案内 / 周辺機器
透過電子顕微鏡 (TEM)
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CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 電界放出形クライオ電子顕微鏡
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JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) 電界放出形クライオ電子顕微鏡
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JEM-Z200FSC (CRYO ARM™ 200) 電界放出形クライオ電子顕微鏡
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JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 原子分解能電子顕微鏡
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JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 高分解能STEMイメージング
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JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡
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JEM-F200 多機能電子顕微鏡
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JEM-2200FS 電界放出形透過電子顕微鏡
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JEM-2100Plus 透過電子顕微鏡
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JEM-1400Flash 電子顕微鏡
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Relativity (Electrostatic Subframing System)
オプション (TEM)
走査電子顕微鏡 (SEM)
FE-SEM
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JSM-IT800 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
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JSM-IT800(SHL) ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
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JSM-7900F ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
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JSM-7610FPlus ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
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JSM-7610FPlus GENTLEBEAM™ Super High Resolution (GBSH) ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
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JSM-F100 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
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JSM-7200F ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
オプション (FE-SEM)
汎用SEM
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JSM-IT700HR InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
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JSM-IT500HR InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
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JSM-IT500 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
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JSM-IT200 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
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JCM-7000 NeoScope™ ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡
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JCM-7000 NeoScope™ ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡
オプション (汎用SEM)
イオンビーム応用装置 (FIB、IS、CP)
集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
オプション (FIB)
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IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS 自動TEM薄膜作製システム STEMPLING
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イオンビーム応用装置用試料ホルダー及び消耗品 JIB-46XXF / JIB-4700F / JIB-4000 / JIB-4000PLUS
薄膜試料作製装置 (IS)
断面試料作製装置 (CP)
オプション (CP)
微小領域分析・表面分析装置 (EPMA、Auger、XPS、ESCA) * EPMAは、Electron Probe Microanalyzerの略称です。
電子プローブマイクロアナライザ (EPMA)
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JXA-iHP200F ショットキー形電子プローブマイクロアナライザ
JXA-iSP100 タングステン/LaB6電子プローブマイクロアナライザ -
JXA-8530FPlus フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ(FE-EPMA)
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JXA-8230 電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)
オプション (EPMA)
オージェマイクロプローブ (Auger)
オプション (Auger)
光電子分光装置 (XPS、ESCA)
核磁気共鳴装置(NMR)
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NMR spectrometer Z (JNM-ECZRシリーズ) NMR装置
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NMR spectrometer Z (JNM-ECZSシリーズ) NMR装置
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NMR Solutuion NMRによる定量分析 qNMR
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NMRで、できること
オプション (NMR)
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Delta アップグレードシステム
* Deltaは、NMR用ソフトウェアです。
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ハイスループット固体NMR
電子スピン共鳴装置(ESR)
蛍光X線分析装置(XRF)
質量分析計(MS)
GC-MS, Gas Analysis MS
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JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 高性能ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計
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JMS-TQ4000GC ガスクロマトグラフ三連四重極質量分析計
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JMS-Q1500GC ガスクロマトグラフ質量分析計
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JMS-MT3010HRGA INFITOF 多重周回飛行時間質量分析計
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JMS-800D ダイオキシン類分析専用質量分析計
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JMS-700 MStation 高性能二重収束質量分析計
オプション (GC-MS, Gas Analysis MS)
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JMS-T200GC AccuTOF™ GCx-plus Petroleum and Petrochemical Solutions
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msFineAnalysis JMS-T200GCシリーズ専用 電子イオン化/ソフトイオン化データ対応 自動解析ソフトウェア
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究極の熱分析ツール TG-TOFMS
LC-MS(DART-MS)、MALDI-TOFMS
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JMS-T100LP AccuTOF LC-plus 4G 大気圧イオン化飛行時間型質量分析計
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JMS-S3000 SpiralTOF™-plus マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間質量分析計
オプション (LC-MS(DART-MS)、MALDI-TOFMS)
計測機器
半導体製造装置
成膜関連機器・材料生成機器
成膜関連機器 (電子銃・プラズマ源・他)
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BS/JEBG シリーズ 電子銃 ・ JST/BS-ICE シリーズ 電源
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BS-800 Series/BS-920 Series プラズマアシスト用 プラズマソース/電源
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BS-60250DEM 新型電子銃
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BS-60211DEM/BS-60210DEM 電子銃
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BS-04 シリーズ ロータリーセンサー
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JEBG シリーズ 直進形電子銃・電源
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研究開発用 電子ビーム蒸着装置
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BS シリーズ 研究開発用 電子ビーム蒸着装置
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高周波誘導熱プラズマ装置
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RF-120シリーズ 高周波電源
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TP-99010FDR 粉末供給装置
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TP-99140FDR 粉末供給装置
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BS-60310BDS ボンバード蒸着源
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BS-60610BDS ボンバード蒸着源