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製品案内 / 周辺機器

透過電子顕微鏡 (TEM)

オプション (TEM)

走査電子顕微鏡 (SEM)

FE-SEM

オプション (FE-SEM)

汎用SEM

オプション (汎用SEM)

イオンビーム応用装置 (FIB、IS、CP)

集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)

オプション (FIB)

薄膜試料作製装置 (IS)

断面試料作製装置 (CP)

オプション (CP)

微小領域分析・表面分析装置 (EPMA、Auger、XPS、ESCA) * EPMAは、Electron Probe Microanalyzerの略称です。

電子プローブマイクロアナライザ (EPMA)

オプション (EPMA)

オージェマイクロプローブ (Auger)

オプション (Auger)

光電子分光装置 (XPS、ESCA)

核磁気共鳴装置 (NMR)

電子スピン共鳴装置(ESR)

蛍光X線分析装置(XRF)

質量分析計(MS)

GC-MS, Gas Analysis MS

オプション (GC-MS, Gas Analysis MS)

LC-MS(DART-MS)、MALDI-TOFMS

オプション (LC-MS(DART-MS)、MALDI-TOFMS)

計測機器

半導体製造装置

電子ビーム金属3Dプリンター (AM)

成膜関連機器・材料生成機器

成膜関連機器 (電子銃・プラズマ源・他)

材料生成機器 (ナノ粒子合成／ナノ粒子表面改質・電子ビーム溶解)

設置環境対策

関連製品 (設置環境対策)

受託分析

定額フルサポートプラン (レンタルサービス)

シェアリングサービス

分析装置サブスクリプションサービス (JEOL-rento)

CPレシピサポートのご案内 (断面試料作製装置 クロスセクションポリッシャ™)

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