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製品案内 / 周辺機器

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  製品案内
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  電子顕微鏡関連周辺機器

透過電子顕微鏡 (TEM)

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  JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) 電界放出形クライオ電子顕微鏡
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  JEM-Z200FSC (CRYO ARM™ 200) 電界放出形クライオ電子顕微鏡
• 
  JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 原子分解能電子顕微鏡
• 
  JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 高分解能STEMイメージング
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  JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡
• 
  JEM-F200 多機能電子顕微鏡
• 
  JEM-2200FS 電界放出形透過電子顕微鏡
• 
  JEM-2100Plus 透過電子顕微鏡
• 
  JEM-1400Flash 電子顕微鏡
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  Relativity (Electrostatic Subframing System)

オプション (TEM)

• 
  TEM-EDS元素マッピング用高速ロスレス・ドリフト補正
• 
  JEM-1400/JEM-1400Plus Flash化バージョンアップ
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  SAAF Octa 分割型検出器(8分割型)
• 
  4DCanvas™ ピクセル型STEM検出器

走査電子顕微鏡 (SEM)

FE-SEM

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  JSM-IT800 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
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  JSM-IT800(SHL) ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
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  JSM-7900F ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
• 
  JSM-7610FPlus ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
• 
  JSM-7610FPlus GENTLEBEAM™ Super High Resolution (GBSH) ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
• 
  JSM-F100 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
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  JSM-7200F ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

オプション (FE-SEM)

• 
  軟X線分光器 Super Spectrometer SS-94000SXES/SS-94040SXSER
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  走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 FE-SEM

  * JSM-IT800 適用可

汎用SEM

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  JSM-IT700HR InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
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  JSM-IT500HR InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
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  JSM-IT500 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
• 
  JSM-IT200 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
• 
  JCM-7000 NeoScope™ ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡
• 
  JCM-7000 NeoScope™ ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡

オプション (汎用SEM)

• 
  JSM-IT200用EDS ドライSD™60検出器
• 
  走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 JSM-IT100 / JSM-IT200 / JSM-6510シリーズ
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  走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 JSM-6610シリーズ
• 
  走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 JSM-IT500 / JMS-IT500HR

  * JSM-IT700HR 適用可

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  走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 JCM-7000

イオンビーム応用装置 (FIB、IS、CP)

集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)

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  JIB-4700F 複合ビーム加工観察装置
• 
  JIB-4000PLUS 集束イオンビーム加工観察装置

オプション (FIB)

• 
  IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS 自動TEM薄膜作製システム STEMPLING
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  イオンビーム応用装置用試料ホルダー及び消耗品 JIB-46XXF / JIB-4700F / JIB-4000 / JIB-4000PLUS

薄膜試料作製装置 (IS)

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  EM-09100IS イオンスライサ™
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  IB-09060CIS クライオイオンスライサ

断面試料作製装置 (CP)

• 
  IB-10500HMS クロスセクションポリッシャ™ ハイスループットミリングシステム
• 
  IB-19520CCP 断面試料作製装置
• 
  IB-19530CP クロスセクションポリッシャ™ 断面試料作製装置

オプション (CP)

• 
  CP精密加工位置合わせ顕微鏡
• 
  CP精密加工位置合わせ顕微鏡 TYPE2

微小領域分析・表面分析装置 (EPMA、Auger、XPS、ESCA) * EPMAは、Electron Probe Microanalyzerの略称です。

電子プローブマイクロアナライザ (EPMA)

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  JXA-iHP200F ショットキー形電子プローブマイクロアナライザ
  JXA-iSP100 タングステン／LaB₆電子プローブマイクロアナライザ
• 
  JXA-8530FPlus フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ(FE-EPMA)
• 
  JXA-8230 電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)

オプション (EPMA)

• 
  軟X線分光器 Super Spectrometer SS-94000SXES/SS-94040SXSER

オージェマイクロプローブ (Auger)

• 
  JAMP-9510F フィールドエミッションオージェマイクロプローブ

オプション (Auger)

• 
  Spectrum Image JAMP-9510F / 9500F

光電子分光装置 (XPS、ESCA)

• 
  JPS-9030 光電子分光装置(XPS)

核磁気共鳴装置(NMR)

• 
  NMR spectrometer Z （JNM-ECZRシリーズ） NMR装置
• 
  NMR spectrometer Z （JNM-ECZSシリーズ） NMR装置
• 
  NMR Solutuion NMRによる定量分析 qNMR
• 
  NMRで、できること

オプション (NMR)

• 
  Delta アップグレードシステム

  * Deltaは、NMR用ソフトウェアです。

• 
  ハイスループット固体NMR

電子スピン共鳴装置(ESR)

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  JES-X3 シリーズ ESR装置

蛍光X線分析装置(XRF)

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  JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置(XRF)

質量分析計(MS)

GC-MS, Gas Analysis MS

• 
  JMS-T200GC AccuTOF™ GCx-plus　高性能ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計
• 
  JMS-TQ4000GC ガスクロマトグラフ三連四重極質量分析計
• 
  JMS-Q1500GC ガスクロマトグラフ質量分析計
• 
  JMS-MT3010HRGA INFITOF 多重周回飛行時間質量分析計
• 
  JMS-800D ダイオキシン類分析専用質量分析計
• 
  JMS-700 MStation 高性能二重収束質量分析計

オプション (GC-MS, Gas Analysis MS)

• 
  JMS-T200GC AccuTOF™ GCx-plus Petroleum and Petrochemical Solutions
• 
  msFineAnalysis JMS-T200GCシリーズ専用 電子イオン化/ソフトイオン化データ対応 自動解析ソフトウェア
• 
  究極の熱分析ツール TG-TOFMS

LC-MS(DART-MS)、MALDI-TOFMS

• 
  JMS-T100LP AccuTOF LC-plus 4G 大気圧イオン化飛行時間型質量分析計
• 
  JMS-S3000 SpiralTOF™-plus　マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間質量分析計

オプション (LC-MS(DART-MS)、MALDI-TOFMS)

• 
  msRepeatFinder ポリマー解析用ソフトウェア

計測機器

• 
  μCTシリーズ X線CT微細構造システム (材料系)
• 
  GC-310C/8610 series ポータブルガスクロマトグラフ

半導体製造装置

• 
  JBX-8100FSシリーズ 電子ビーム描画装置

成膜関連機器・材料生成機器

• 
  JEOL産業機器総合カタログ

成膜関連機器 (電子銃・プラズマ源・他)

• 
  BS/JEBG シリーズ 電子銃 ・ JST/BS-ICE シリーズ 電源
• 
  BS-800 Series/BS-920 Series プラズマアシスト用 プラズマソース/電源
• 
  BS-60250DEM 新型電子銃
• 
  BS-60211DEM/BS-60210DEM　電子銃
• 
  BS-04 シリーズ ロータリーセンサー
• 
  JEBG シリーズ 直進形電子銃・電源
• 
  研究開発用 電子ビーム蒸着装置
• 
  BS シリーズ 研究開発用 電子ビーム蒸着装置
• 
  高周波誘導熱プラズマ装置
• 
  RF-120シリーズ 高周波電源
• 
  TP-99010FDR 粉末供給装置
• 
  TP-99140FDR 粉末供給装置
• 
  BS-60310BDS ボンバード蒸着源
• 
  BS-60610BDS ボンバード蒸着源

材料生成機器 (ナノ粒子合成／ナノ粒子表面改質・電子ビーム溶解)

• 
  JEBG シリーズ 直進形電子銃・電源
• 
  BS-EBM シリーズ 多目的電子ビーム溶解炉
• 
  高周波誘導熱プラズマ装置
• 
  RF-120シリーズ 高周波電源
• 
  TP-40020NPS 高周波誘導熱プラズマナノ粒子合成装置
• 
  TP-99010FDR 粉末供給装置
• 
  TP-99140FDR 粉末供給装置

設置環境対策

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  最先端理科学機器のための設置環境技術
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  磁場対策のご案内
• 
  振動対策のご案内
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  温度変動対策のご案内
• 
  ラボ環境コンサルティングのご案内

関連製品 (設置環境対策)

• 
  電子顕微鏡用高精度冷却水循環装置 enoaqua
• 
  ウルトラミクロ/ミクロ天秤用恒温恒湿システム FS-71100CTH
• 
  EST-L6H-4700-01 NEOARM用アクティブ除振システム
• 
  TCN300XNL JEM-ARM300F用アクティブ除振システム

受託分析

• 
  受託分析のご案内 (顕微鏡関連)
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  受託分析のご案内

定額フルサポートプラン (レンタルサービス)

• 
  定額フルサポートプラン (レンタルサービス)

シェアリングサービス

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  シェアリングサービス JEM-ARM200F NEOARMex
• 
  シェアリングサービス 核磁気共鳴装置