表面分析実践講座2022 実践! 最新走査電子顕微鏡実習 実際の作業を通して身につける最新技術
公開日: 2022/07/21
最近の走査電子顕微鏡 (SEM) 技術の発展はめざましく、形状観察はもちろんのこと、各種検出器を駆使した多岐にわたる分析が可能となっています。そこで本講座では、SEM経験者を想定し、基礎と応用に関する講習の後、専門家の指導の下で最新の実機を用いた実習に参加してもらい、体験を通じた原理の理解の深耕と、これによる応用力の効くオペレーション技術を習得していただきます。実習では、各種検出器の使い方から、低加速電圧観察、分析などを対象とし、実践を通じて習得することを目的としています。
主催:日本表面真空学会
開催日/会場
- 日程:
2022年8月10日 (水) 10:00~18:00 - 会場:
日本電子株式会社 開発館
〒196-8558 東京都昭島市武蔵野3−1−2 地図 - 交通アクセス:
JR 青梅 (おうめ) 線 中神 (なかがみ) 駅 北口より徒歩約10分・立川駅 北口よりタクシーで約15分
参加費・定員
- 受講料:
有料 (学会サイトをご参照ください) - 定員:
18名 (定員に達し次第締め切ります)
プログラム
午前:講習 (10:30~12:00)
時間 | タイトル 講演者 |
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10:30~11:10 | 低加速電圧走査電子顕微鏡で見る最表面 髙見 誠一 様 (名古屋大学) |
11:15~12:00 | ここまでできる最新の走査電子顕微鏡 −多様な像検出器の最大活用− 佐藤 馨 様 (JFEテクノリサーチ株式会社) |
12:00~13:00 | 昼食 休憩 |
午後:実習 13:00~17:00
時間 | 内容 |
---|---|
13:00~17:20 | 装置実習 (W-SEMないしFE-SEM) 講師:日本電子株式会社 SEM応用技術者 |
15:00~15:20 | 休憩 |
17:30~18:00 | 総合討論 |
お申し込み方法
お問い合わせ
- 表面分析実践講座 事務局
E-mail: office[at]jvss.jp
※上記の[at]は@に置き換えてください