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表面分析実践講座2022 実践! 最新走査電子顕微鏡実習 実際の作業を通して身につける最新技術

公開日: 2022/07/21

最近の走査電子顕微鏡 (SEM) 技術の発展はめざましく、形状観察はもちろんのこと、各種検出器を駆使した多岐にわたる分析が可能となっています。そこで本講座では、SEM経験者を想定し、基礎と応用に関する講習の後、専門家の指導の下で最新の実機を用いた実習に参加してもらい、体験を通じた原理の理解の深耕と、これによる応用力の効くオペレーション技術を習得していただきます。実習では、各種検出器の使い方から、低加速電圧観察、分析などを対象とし、実践を通じて習得することを目的としています。

主催:日本表面真空学会
 

開催日/会場

  • 日程:
    2022年8月10日 (水) 10:00~18:00
  • 会場:
    日本電子株式会社 開発館
    〒196-8558 東京都昭島市武蔵野3−1−2 地図
  • 交通アクセス:
    JR 青梅 (おうめ) 線 中神 (なかがみ) 駅 北口より徒歩約10分・立川駅 北口よりタクシーで約15分

参加費・定員

  • 受講料:
    有料 (学会サイトをご参照ください)
  • 定員:
    18名 (定員に達し次第締め切ります)

プログラム

午前:講習 (10:30~12:00)

時間 タイトル
講演者
10:30~11:10 低加速電圧走査電子顕微鏡で見る最表面
髙見 誠一 様 (名古屋大学)
11:15~12:00 ここまでできる最新の走査電子顕微鏡 −多様な像検出器の最大活用−
佐藤 馨 様 (JFEテクノリサーチ株式会社)
12:00~13:00 昼食 休憩

午後:実習 13:00~17:00

時間 内容
13:00~17:20 装置実習 (W-SEMないしFE-SEM)
講師:日本電子株式会社 SEM応用技術者
15:00~15:20 休憩
17:30~18:00 総合討論

お申し込み方法

お問い合わせ

  • 表面分析実践講座 事務局
    E-mail: office[at]jvss.jp
    ※上記の[at]は@に置き換えてください
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