日本顕微鏡学会 第79回学術講演会
6月25日 (日) ～6月28日 (水) くにびきメッセにて開催される、日本顕微鏡学会 第79回学術講演会に参加致します。
学会講演・冠ワークショップにつきましては参加登録をされた方のみ聴講できますが、顕微鏡体験ワークショップ、企業展示、ランチョンセミナーにつきましてはどなたでも参加できます。
顕微鏡体験ワークショップのみ事前申し込みが必要です
皆様のご来場をお待ちいたしております
開催日/会場
日程:
2023年6月25日 (日) ～ 28日 (水)会場:
くにびきメッセ
〒690-0826 島根県松江市学園南1-2-1 地図
顕微鏡体験ワークショップ
日時：
6月25日 (日) 15:00～16:30場所：
くにびきメッセ1F小ホール (C会場)定員：
60名
小学生の場合には、保護者同伴でお願いします。
「発見！探検！ミクロの世界」
誰でも使える日本電子の走査電子顕微鏡NeoScope™を使ってミクロの世界の美しい構造や機能を発見！探検！しましょう。
事前の申し込みが必要になりますので、下記お申し込みボタンより申し込みを行ってください。
企業展示
実機デモ及びアプリケーションパネルを展示致します。
場所：くにびきメッセ1F大展示場
6月26日 (月) 9:00～17:30
6月27日 (火) 9:00～17:30
6月28日 (水) 9:00～14:30
ランチョンセミナー
6月26日 (月) 12:00～12:50
会場：くにびきメッセ3F国際会議場 (D会場)
①「容易なTEM試料搬送を実現した新型FIB-SEM JIB-PS500iのご紹介」
講演者：
門井 美純所属：
日本電子株式会社 EP事業ユニット
②「ストロボスコピックな電界放出形電子光源をもちいた超高速時間分解TEMの特徴とその応用」
「Stroboscopic field emitter-based Ultrafast TEM: Instrument and Applications」
講演者：
Dr. Armin Feist所属：
Max Planck Institute of Multidisciplinary Sciences & Georg-August-Universität Göttingen Germany
6月27日 (火) 12:00～12:50
会場：くにびきメッセ3F国際会議場 (D会場)
①「次世代の試料作製ソリューションを搭載した 新型FIB-SEM JIB-PS500iのご紹介」
講演者：
門井 美純所属：
日本電子株式会社 EP事業ユニット
②「試料変質を抑える！～冷却ステージを用いた最新のSEM観察と分析～」
講演者：
山本 康晶所属：
日本電子株式会社 EP事業ユニット
冠ワークショップ
日時：
6月27日 (火) 17:00～17:30場所：くにびきメッセ3F国際会議場 (D会場)
①「走査形"ultrafast-TEM"によるナノスケール歪と光学場のフェムト秒マッピング」
「Femtosecond mapping of nanoscale strain and optical fields in scanning ultrafast TEM」
講演者：
Dr. Armin Feist所属：
Max Planck Institute of Multidisciplinary Sciences & Georg-August-Universität Göttingen Germany
②「Dynamic TEM：不可逆的プロセスのナノ秒その場測定」
「Dynamic TEM: Nanosecond in situ measurements of irreversible processes」
講演者：
Dr. Bryan Reed所属：
INTEGRATED DYNAMIC ELECTRON SOLUTIONS, INC.
関連リンク
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 企画部 イベントグループ
e-mail: jeol_event[at]jeol.co.jp
- ※[at]は@にしてください
