公益社団法人日本顕微鏡学会第63回シンポジウム
顕微鏡オンラインフォーラム2020
2020年11月20日(金)～21日(土) 日本顕微鏡学会 第63回シンポジウムはオンデマンド型のオンラインシンポジウムにて開催されます。
シンポジウム開催に合わせて、弊社ではオンライン展示会を行います。新製品動画、展示パネル、カタログを掲載します。
動画
新型ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 JSM-IT800
◆上のボックス内の再生ボタンをクリックするとムービーが始まります。 (1分51秒) ◆
JSM-IT800＜SHL＞
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JCM-7000 かんたん操作 3つのポイント
◆上のボックス内の再生ボタンをクリックするとムービーが始まります。 (3分11秒) ◆
ウェビナー
CRYOARM™を用いた単粒子解析とワークフローの提案
開催中
コールド電子銃やオメガフィルターを標準搭載したユニークなクライオ電子顕微鏡 CRYOARM™による単粒子解析の事例をスループットや研究成果を用いて紹介します。
また、スクリーニングからデータ取得まで、自由度の高い CRYOARM™ならではの特徴を活かしたワークフローを提案します。複数のユーザー様がクライオ電子顕微鏡を使用する環境でのソリューションをご覧ください。
講師 牧野 文信 (工学博士)
日本電子株式会社 EM事業ユニット
GRAND ARM™を超えたGRAND ARM™ "GRAND ARM™2"の紹介
開催中
GRAND ARM™２では、新たに開発された新型対物レンズ"FHP2"による超高空間分解能と 高感度元素分析が両立され、エンクロージャーで装置を囲うことにより環境、外乱対策の 強化を行っています。
また、ユーザービリティを追求した様々な新機能の追加も行っています。これらの新要素、新機能に加えて、最新のデータや新しいアタッチメントなどの紹介も行います。
講師 橋口 裕樹
日本電子株式会社 EM事業ユニット
JEM-1400FlashとSiN window chipを用いた大面積観察のすすめ
開催中
JEM-1400Flashには、超広域モンタージュ画像を自動で撮影できる「Limitless Panorama」機能が標準で搭載されており、 超広域＆高精細画像を簡単に取得することができます。
さら撮影予約機能により、複数個所の撮影を自動で行うことも可能です。また、広視野観察に最適な試料台「SiN window chip」の使用によりミリメートルサイズの視野観察が可能になりましたので、 視野カットなどのストレスなく目的個所を素早く見つけることができます。本セミナーでは、JEM-1400FlashとSiN window chipを用いた大面積観察の特長についてご紹介します。
講師 濱元 千絵子
日本電子株式会社 EM事業ユニット
新製品紹介 JSM-IT700HR
開催中
微細化に伴い観察が難しくなる試料を日常的に測定しなければならないという声から、走査電子顕微鏡（SEM）を楽に操作するニーズが高まっています。
リサーチ目的だけでなく、さらに早く、高画質なデータを取得したい、分析を意識しないで、より簡単に組成情報を確認したいというニーズに応えるために、＜「見える」よりも「楽に見える」＞をテーマに誕生した SEM JSM-IT700HR を紹介します。
最高分解能1 nm、最大照射電流300 nA (従来機15倍) を発揮する電子銃は観察・分析に余裕を感じさせてくれます。楽な操作で誰でも自由自在に高分解能と多用途の分析機能が利用できるようになります。
講師 三島 了太 / 坂田 隆英
日本電子テクニクス株式会社 開発部
展示パネル
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アプリケーションパネル
超高圧透過電子顕微鏡と四重極質量分析計の融合
- 構造解析から機能解析へ - -
透過電子顕微鏡（TEM）
原子分解能分析電子顕微鏡
JEM-ARM300F2 GRAND ARMTM2
原子分解能分析電子顕微鏡
JEM-ARM200F NEOARM
電界放出形クライオ電子顕微鏡
CRYO ARMTM
多機能電子顕微鏡
JEM-F200
透過電子顕微鏡
JEM-1400Flash
EDM (Electrostatic Dose Modulator)
JEOL-IDES Products -
走査電子顕微鏡（SEM）
卓上走査電子顕微鏡
JCM-7000 NeoScopeTM -
電子プローブマイクロアナライザ (EPMA)
電子プローブマイクロアナライザ
JXA-iHP200F / JXA-iSP100
軟X線分光器
SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer)/SXES-ER (Soft X-Ray Emission Spectrometer Extended Range) -
オージェマイクロプローブ (Auger)
フィールドエミッションオージェマイクロプローブ
JAMP-9510F -
集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
複合ビーム加工観察装置
JIB-4700F -
断面試料作製装置 (CP)
冷却クロスセクションポリッシャTM
IB-19520CCP -
サービス&ソリューション
分析機器シェアリングサービスのご紹介
受託分析のご紹介
電子顕微鏡用高精度冷却水循環装置 enoqua
カタログ
製品のPDFカタログは下記からダウンロードいただけます。
オンラインデモのご紹介
装置の導入を検討中のお客様にインターネット経由で装置の紹介や操作説明を行うサービスです。
複数の方が同時にご覧いただけます。音声通話も可能ですので、質疑応答もその場で行うことができます。
メリット
ご来社頂く必要がありません
出張承認が不要
多くの装置使用者で確認可能
報告／日報が不要
デモ後、速やかに仕事に戻れる
お申込みから実施までの流れ
ご希望の際は、お問い合わせフォームよりお申込みください。
担当者より折り返しご連絡を差し上げます。
その際、日時の調整やご要望等をお伺いします。指定日時に「オンラインデモ」を開始いたします。
当日はお電話またはPC音声マイクを通してご案内いたします。
理科学機器のサブスクリプション
お問い合わせ
日本電子はオンライン上での装置デモンストレーションや受託分析を行っております。
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内容に応じて、担当部門より回答させていただきます。
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