電子顕微鏡関連 展示 (オンライン)
学会： 2021年6月14日(月)～6月16日(水)
オンライン： 2021年6月14日(月)～6月30日(水)
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『日本顕微鏡学会 第77回学術講演会』が2021年6月14日(月)～16日(水) つくば国際会議場にて開催されます。
今年はオンライン配信を併用してのハイブリッド開催となります。
弊社は会場にてブース展示を行いますが、併せてJEOL Online EXPO電子顕微鏡関連 特設サイトを6/14～6/30の期間限定で開設いたします。
ブースに展示している新製品/新技術の紹介、過去に実施したウェビナーの中から人気のあったものを選び動画を掲載しました。
ウェビナー (オンデマンド)
透過電子顕微鏡
GRAND ARM™を超えたGRAND ARM™ "GRAND ARM™2"の紹介
EM_1
GRAND ARM™2では、新たに開発された新型対物レンズ"FHP2"による超高空間分解能と 高感度元素分析が両立され、エンクロージャーで装置を囲うことにより環境、外乱対策の強化を行っています。 また、ユーザービリティを追求した様々な新機能の追加も行っています。
これらの新要素、新機能に加えて、最新のデータや新しいアタッチメントなどの紹介も行います。
講師
橋口 裕樹
日本電子株式会社
EM事業ユニット
EMアプリケーション部
JEM-1400FlashとSiN window chipを用いた大面積観察のすすめ
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JEM-1400Flashには、超広域モンタージュ画像を自動で撮影できる「Limitless Panorama」機能が標準で搭載されており、 超広域＆高精細画像を簡単に取得することができます。さら撮影予約機能により、複数個所の撮影を自動で行うことも可能です。
また、広視野観察に最適な試料台「SiN window chip」の使用によりミリメートルサイズの視野観察が可能になりましたので、 視野カットなどのストレスなく目的個所を素早く見つけることができます。
本セミナーでは、JEM-1400FlashとSiN window chipを用いた大面積観察の特長についてご紹介します。
講師
濱元 千絵子
日本電子株式会社
EM事業ユニット
EMアプリケーション部
新型冷陰極電界放出形クライオ電子顕微鏡 "CRYO ARM™ 300 II"の紹介
EM_3
CRYO ARM™ 300のリリースから約3年半、今回新たに開発された"CRYO ARM™ 300 II"は、電子ビーム制御による高速撮像、システム改良による操作性の向上、ハードウェアの安定性向上により、これまでより高いスループット・安定性・ユーザビリティーをユーザーに提供します。
本ウェビナーではこれらの新要素、新機能に加えて、最新のデータ等の紹介を行います。
講師
細木 直樹
日本電子株式会社
EM事業ユニット
EMアプリケーション部
非曝露環境下でのリチウムイオン電池のTEM試料作製
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リチウムイオン電池は大気成分と反応しやすいため、大気非曝露下での試料搬送及び試料作製が必要です。今回、全固体リチウムイオン電池のシリコン負極材を試料として、集束イオンビーム装置 (FIB) を用いた非曝露TEM試料作製プロセスをご紹介します。
クロスセクションポリッシャ™ (CP) から直接FIB-SEMへ試料搬送することで平滑なCP断面から試料作製が行えるため、より簡便に目的の部位から高品質なTEM試料作製が可能となります。
講師
門井 美純
日本電子株式会社
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
The timeline of IDES (英語の講演)
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We will discuss the history of IDES, Inc. and its capabilities in ultrafast and dynamic transmission electron microscopy.
IDES began as a small company based on the technology from the DTEM project at Lawrence Livermore National Laboratory and is now a subsidiary of JEOL Ltd. IDES products span time scales from milliseconds to picoseconds, and today we will focus on the nanosecond to picosecond range provided by pulsed lasers.
講師
Dr. Bryan Reed
Chief Technology Officer
INTEGRATED DYNAMIC ELECTRON SOLUTIONS, INC.
走査電子顕微鏡
SEM観察の基礎と応用 ～試料情報を引き出す前処理と観察条件設定～
SM_1
最近の走査電子顕微鏡（SEM）はフォーカス・スティグマなど、自動調整機能の発達により、誰でも簡単に像取得ができるようになりました。しかし、試料からの情報を的確に捉えるためには、観察目的に合った試料前処理及び観察条件に調整する必要があります。
本セミナーでは、SEMをさらに活用するための試料に応じた前処理から観察条件について紹介します。
講師
石野 真友
日本電子株式会社
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
集束イオンビーム加工観察装置
電子機器部品の構造・欠陥解析 ～SIM像による三次元観察の応用事例～
FIB_1
シングルビームFIBのJIB-4000PLUSはSIM像による三次元観察が行えます。
SIM像のチャンネリングコントラストが鮮明に観察できる特徴から、結晶性試料などの三次元解析に有効な測定法です。IRカットフィルター上の欠陥で三次元観察を実施し、欠陥の発生原因を解析しました。また、セラミックコンデンサーの三次元観察を行い、内部にあるボイドを可視化するとともにボイドの分布とその割合を解析したので、その詳細を報告します。
講師
山田 晶子
日本電子株式会社
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
Synergy-ED
MICROED: AN UPDATE FROM THE RIGAKU/JEOL COLLABORATION
(英語の講演)
WEBINAR-1
We would like to invite you to join us for a special webinar on MicroED.
During this event we will show you the latest progress from our collaboration with JEOL.
講師
Mr．Fraser White
Rigaku Corporation
展示パネル
パネルPDFは、ダウンロード可能です。
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透過電子顕微鏡 (TEM)
電界放出形クライオ電子顕微鏡
JEM-3300 CRYO ARM™ 300 II公開期間は終了しました
電子顕微鏡
JEM-2100Plus公開期間は終了しました
原子分解能分析電子顕微鏡
JEM-ARM200F NEOARM公開期間は終了しました
Luminary Micro
JEOL-IDES Products公開期間は終了しました
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走査電子顕微鏡 (SEM)
ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
JSM-IT800 Super Hybrid Lens (SHL)公開期間は終了しました
卓上走査電子顕微鏡
JCM-7000 NeoScope™公開期間は終了しました
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電子プローブマイクロアナライザ (EPMA)
軟X線分光器
SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer)/SXES-ER (Soft X-Ray Emission Spectrometer Extended Range)公開期間は終了しました
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オージェマイクロプローブ (Auger)
フィールドエミッションオージェマイクロプローブ
JAMP-9510F公開期間は終了しました
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集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
複合ビーム加工観察装置
JIB-4700F公開期間は終了しました
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断面試料作製装置 (CP)
ハイスループットミリングシステム クロスセクションポリッシャ™ (CP)
IB-19530CP IB-19520CCP公開期間は終了しました
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サービス&ソリューション
受託分析のご紹介
公開期間は終了しました
電子顕微鏡用高精度冷却水循環装置 enoqua
公開期間は終了しました
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Synergy-ED
Nano crystal structure analysis Electron Diffractometer
XtaLAB "Synergy-ED"公開期間は終了しました
カタログ
製品のPDFカタログは下記からダウンロードいただけます。
日本電子news
製品のPDFカタログは下記からダウンロードいただけます。
Applications
フォトニック結晶レーザーの進展とLiDAR応用
高分解能EELSを使った局所材料物性評価
蛍光タンパク質を用いたエポン樹脂包埋生物試料の2色in-resin CLEM
スピントラップによる高分子材料のための劣化反応解析
透過電子顕微鏡における静電偏向技術を用いた高速電子線変調システムと試料へのレーザー導入システム
ハイエンドFE-SEM JSM-IT800 Super Hybrid Lens〈SHL〉の新検出システム
FIB-SEMとEBSDを用いた特定方位からのTEM試料作製 ～石質隕石への応用～
軟X線分光法と理論計算によるホウ素化合物およびリン化合物の結合状態解析
電子プローブマイクロアナライザーと軟X線分光器を用いたアエンデ隕石マトリックス鉱物の鉄状態分析
マルチイオン化-未知物質解析システム 新型ガスクロマトグラフ/高分解能飛行時間質量分析計
JMS-T2000GC "AccuTOF™ GC-Alpha"
日本電子newsのPDFは、ダウンロード可能です。
オンラインデモのご紹介
装置の導入を検討中のお客様にインターネット経由で装置の紹介や操作説明を行うサービスです。
複数の方が同時にご覧いただけます。音声通話も可能ですので、質疑応答もその場で行うことができます。
メリット
ご来社頂く必要がありません
出張承認が不要
多くの装置使用者で確認可能
報告／日報が不要
デモ後、速やかに仕事に戻れる
お申込みから実施までの流れ
ご希望の際は、お問い合わせフォームよりお申込みください。
担当者より折り返しご連絡を差し上げます。
その際、日時の調整やご要望等をお伺いします。指定日時に「オンラインデモ」を開始いたします。
当日はお電話またはPC音声マイクを通してご案内いたします。
オンラインデモ お申し込みフォーム
日本電子はオンライン上での装置デモンストレーションや受託分析を行っております。
詳細は下記よりお問い合わせください。
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内容に応じて、担当部門より回答させていただきます。
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アンケートやお問合せの内容によっては、回答できかねる場合がございますので、ご了承ください。
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当社営業時間外のお問合せにつきましては、翌営業日以降の回答となります。
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お問い合わせ
日本電子株式会社
日本顕微鏡学会 第77回学術講演会 (オンライン) 事務局
E-mail： jeol_event[at]jeol.co.jp
[at]は＠に、ご変更ください。