AES装置を使ったSEM-REELSによるLi分析
公開日： 2019/02/13
走査型のオージェ電子分光(AES)装置は、走査電子顕微鏡(SEM)をベースにした電子分光装置であり、材料の元素、化学状態の分布を調べるためのツールとして有望である。現在、リチウム電池研究において、材料のLi分析のニーズは大きい。本発表では、AESや反射電子を分光して得られる、電子エネルギー損失分光(REELS)を用い、Liを含む材料分析への有効性、応用を検討している結果について述べる。
主催: 日本電子株式会社
開催日/詳細
- 日程:
2019年3月25日(月) 16:00～16:30 - 講師:
国立研究開発法人産業技術総合研究所
電池技術研究部門ナノ材料科学研究グループ 田口 昇 様
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参加費/定員
- 参加費:
無料 - 定員: 200名
※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。
お申し込み方法
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お問合せ
- 日本電子株式会社
ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進部 企画グループ
担当: 廣川（ひろかわ）・嶋田（しまだ）
TEL: 03-6262-3560
