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粒子解析による自動元素分析

公開日: 2019/03/26

SEM-EDSを用いた粒子解析は、自動で粒子形状解析や元素分析できる特徴を持ち、金属中の介在物の分析や科学捜査ツールの1つであるGSR(Gunshot residue)として使われてきました。近年ではアスベスト解析や、自動車清浄度等の異物検出などの幅広い分野での活躍が期待されています。

本セミナーでは、SEM-EDSを用いた粒子解析の仕組みや、測定事例について紹介します。

主催: 日本電子株式会社

開催日/詳細

  • 日程:
    2019年8月30日(金) 16:00~16:30

関連製品

参加費/定員

  • 参加費:
    無料
  • 定員: 200名
    ※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。

お申し込み方法

  • 以下のURLからお申し込み画面にアクセスしてください。
    https://jeolg.webex.com/jeolg/onstage/g.php?MTID=e134adde362f56b2a33d34c88cc703ca9

    WEBセミナーの登録・参加の手順はこちら (PDF 588KB)をご覧ください。
    初回参加時は、シスコシステムズ合同会社が提供するセミナー閲覧用アプリをインストールする必要があります。
    セミナー参加時に案内表示が出ますので、それに従いインストールをお願いいたします。所要時間は1分程度です。

    同業者の方のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進部 企画グループ
    担当: 廣川(ひろかわ)・嶋田(しまだ)
    TEL: 03-6262-3560

動画

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