卓上走査電子顕微鏡 JCM-7000 プレミアセミナー（西日本SC）
公開日： 2019/05/22
この度 弊社 西日本ソリューションセンターをより使いやすく、便利に拡張するとともに、最新の「卓上走査電子顕微鏡 JCM-7000 」を設置することになりました。皆さまに実機を交えて高いパフォーマンスご紹介させていただきたくセミナー開催を企画いたしました。
本セミナーでは装置ご紹介ほか、皆さまのお仕事に有益となる試料前処理技術や元素分析についてのご紹介をさせていただきます。
時節柄大変ご多忙とは存じますが、何卒ご参加くださいますよう謹んでご案内申し上げます。
主催:日本電子株式会社
開催日/会場
- 日程:
2019年6月28日（金） 13:15～17:30 (受付開始13:00～) - 会場:
日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター
〒532-0011
大阪市淀川区西中島5-14-5 ニッセイ新大阪南口ビル1F
TEL: 06-6305-0121
地図 - 交通アクセス:
JR「新大阪」駅 正面口 徒歩5分
地下鉄御堂筋線「新大阪」駅南口（7番出口） 徒歩2分
お申し込み
- 対象者:
走査電子顕微鏡ご使用またはご検討中のお客様 - 参加費:
無料 - 定員:
30名 (先着順) - お申し込み方法:
※定員となりました。ご応募ありがとうございました。
プログラム
| 13:00 | 開場 |
|---|---|
| 13:15～13:20 | 開会のご挨拶 |
| 13:20～13:50 | クロスセクションポリッシャ™を使った断面作製のご紹介 日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター 田中 章泰 |
| 13:50～14:20 | ピンポイント加工&3D構築用リーズナブルFIBのご紹介 日本電子株式会社 EM販促グループ 上野 秀哉 |
| 14:20～14:50 | こんなにも汎用的！XRFアプリケーションのご紹介 日本電子株式会社 SA事業ユニット 衣笠 元気 |
| 14:50～15:20 | 軟試料・溶液試料のSEM観察 日本電子株式会社 FS事業部 中山 智香子 |
| 15:20～15:40 | 休憩 |
| 15:40～16:10 | 驚きのパフォーマンス！快適な操作性！JCM-7000ご紹介 日本電子株式会社 西本ソリューションセンター 藤田 憲一 |
| 16:10～16:40 | 卓上走査電子顕微鏡 JCM-7000実機見学 |
| 16:40～17:30 | 閉会のご挨拶、個別相談会 |
※ プログラムは変更される場合があります。予めご了承ください。
※ 駐車場はございませんので、公共交通機関をご利用下さい。
※ お申し込みから1週間経過後、弊社より返信が届かない場合、恐れ入りますがお問合せ先までご連絡ください。
※ キャンセルまたは出席者変更の場合は前日までにご連絡ください。それ以降の出席者変更は当日受付にてお伺いいたします。
※ 駐車場はございませんので、公共交通機関をご利用下さい。
※ お申し込みから1週間経過後、弊社より返信が届かない場合、恐れ入りますがお問合せ先までご連絡ください。
※ キャンセルまたは出席者変更の場合は前日までにご連絡ください。それ以降の出席者変更は当日受付にてお伺いいたします。
お問合せ
日本電子株式会社 大阪支店
科学・計測機器営業本部 大阪SIグループ
川端(かわばた)
TEL:06-6304-3942・FAX:06-6304-7377
