第2回 イオンビーム試料作製セミナー
公開日： 2019/06/04
本年のイオンビーム試料作製セミナーは下記の日程での開催を予定しております。
多様化する電子顕微鏡における試料作製について、基礎から応用例まで実践的技術情報をお届けします。本年は経験豊富なアプリケーションによる「質問コーナー」を設けますのでお気軽にお立ち寄りください。試料作製に関する日々のお悩みを解決するきっかけにしていただければ幸いです。
また、こちらのセミナーは弊社装置をお使いの方に限らず、他社装置をお使いの方、または試料作製にご興味があるどなたでもご参加できる無料のオープンセミナーです。
ご多忙の折とは存じますが、皆様のご参加を心よりお待ち申し上げております。
日本電子株式会社
東京大学・日本電子産学連携室
※ご連絡※
- ご来場の際、受付で名刺を頂戴します。お手数ですが事前にご用意をお願いします。
- 同業他社様、代理店様の方々のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。
開催日/会場
- 日程:
2019年12月19日(木) - 会場:
浅草橋ヒューリックホール
〒111-0053 東京都台東区浅草橋1-22-16 ヒューリック浅草橋ビル 2階
地図 - アクセス:
JR総武線「浅草橋駅(西口)」より徒歩1分
都営浅草線「浅草橋駅(A3出口)」より徒歩2分
※1階のオフィスエントランスからは来場いただけません。外階段、又は外エレベーターから2階へご来場をお願いします。
お申し込み
- 参加費:
無料 - 申込締切:
12月13日(金) ※定員になり次第、締め切らせて頂きます。 - お申し込み方法:
※定員となりました。ご応募ありがとうございました。
プログラム
| 時間 | タイトル 演者 |
|---|---|
| 12:45～ | 受付 |
| 13:30～13:40 | 開会の挨拶 |
| 13:40～14:05 | FIB試料作製入門 ～少しの工夫で時間短縮。FIBのノウハウを紹介します。～ 日本電子株式会社 EP事業ユニット EPアプリケーション部 門井 美純 |
| 14:05～14:30 | CP試料作製入門 ～少しの工夫で時間短縮。CPのノウハウを紹介します。～ 日本電子株式会社 EP事業ユニット EPアプリケーション部 金子 剛 |
| 14:30～14:55 | イオンスライサ™によるTEM試料作製 ～試料作製は前処理がタイセツ～ 日本電子株式会社 フィールドソリューション事業部 サービス企画推進本部 河原 尚 |
| 14:55～15:10 | 休憩 |
| 15:10～15:35 | FIB-SEMによる石質隕石のTEM試料作製 ～特定方位からの観察のために～ 日本電子株式会社 EP事業ユニット EPアプリケーション部 柴田 昌照 |
| 15:35～16:00 | 冷却CPによる断面試料作製 ～熱に弱い試料の応用事例～ 日本電子株式会社 EP事業ユニット EPアプリケーション部 應本 玉恵 |
| 16:00～17:30 | 相談コーナー・ポスター展示・懇親会 |
※プログラムは予告無く変更させて頂く場合がございます。予めご了承頂きますようお願い申し上げます。
お問い合わせ
日本電子株式会社
ユーザーズミーティング事務局
担当： 内野(うちの)・廣川(ひろかわ)
TEL： 03-6262-3560 ・ FAX： 03-6262-3577
