JEOL 質量分析ソリューションセミナー 2019 ～材料分析編～
公開日： 2019/08/05
本セミナーでは、超高分解能MALDI-TOFMS JMS-S3000によるKendrick Mass Defect (KMD) 解析を活用した合成高分子の組成分析やマスイメージング、熱分解GC-MS等での未知成分(EIマススペクトルライブラリに登録されていない成分)解析に威力を発揮する高分解能GC-MS JMS-T200GCシリーズ専用自動定性解析プログラム msFineAnalysis Ver.2 をご紹介いたします。
また、産業技術総合研究所・佐藤浩昭先生を講師にお迎えし、超高分解能MALDI-TOFMSや多彩なソフトイオン化が可能な高分解能GC-MSを駆使した、KMD法を用いたデータの可視化等による工業材料の最新解析事例の実際についてご紹介いただきます。
ネッチ・ジャパン株式会社様からは、ネッチ製熱重量測定装置(TG)と、弊社製四重極MS・TOFMSとを組み合わせたTG-MS装置による最新の工業材料解析についてご紹介いただきます。
※本セミナーは、7/5（金）に日本電子株式会社 東京事務所で開催したセミナーと同内容です。
主催:日本電子株式会社
開催日/会場
- 日程:
2019年9月13日(金) 13:30～16:30 (受付開始13:00より) - 会場:
日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター
〒532-0011 大阪市淀川区西中島5-14-5 ニッセイ新大阪南口ビル1F - 交通アクセス:
JR「新大阪」駅 正面口 徒歩5分
地下鉄御堂筋線「新大阪」駅南口（7番出口） 徒歩2分
地図
※駐車場の準備はございません。公共交通機関をご利用下さい。
お申し込み
- 参加費:
無料 - 定員:
25名
※先着順での受付となります。お早目にお申込み下さい。 - お申し込み方法:
※定員になりました。ご応募ありがとうございました。
プログラム
| 時間 | 題名・演者 |
|---|---|
| 13:00～ | 受付 |
| 13:30～14:00 | 高分解能MALDI-TOFMSによる合成高分子解析の挑戦 ～ケンドリックマスディフェクト解析を活用した組成分析とマスイメージング～ 日本電子株式会社 佐藤 貴弥 |
| 14:00～14:30 | 高分解能GC-MSをより身近にする自動定性解析プログラム msFineAnalysis Ver.2のご紹介 日本電子株式会社 生方 正章 |
| 14:30～15:00 | 休憩 |
| 15:00～16:00 | 材料分析分野における高分解能質量分析の活用 国立研究開発法人 産業技術総合研究所 機能化学研究部門 高分子化学グループ長 佐藤 浩昭 様 |
| 16:00～16:30 | TG-MSの基礎と最新技術についてのご紹介 ネッチ・ジャパン株式会社 佐藤 健太 |
※ プログラムは変更される場合があります。予めご了承ください。
セミナー終了後、17:00 まで「よろず相談会」を開催いたします。セミナーの内容に直接関係無いことも含め、質量分析に関連した日頃の疑問について、弊社アプリケーション・販売促進のスタッフにご相談ください。
お問合せ
日本電子株式会社
科学・計測機器営業本部 SI販売促進室
山本（やまもと）
TEL: 03-6262-3575
FAX: 03-6262-3577
